HLY-100 ਸਰਕਿਟ ਰੀਸਿਸਟੈਂਸ ਟੈਸਟਰ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨ ਸੋਲੁਸ਼ਨ

ਪਾਵਰ ਸਿਸਟਮ ਮੈਨਟੈਨੈਂਸ (ਸਬਸਟੇਸ਼ਨਾਂ, ਡਿਸਟ੍ਰੀਬਿਊਸ਼ਨ ਰੂਮ, ਇਤਿਅਦੀ)

ਹਾਈ-ਵੋਲਟ ਸਵਿਚਾਂ, ਡਿਸਕਾਨੈਕਟਾਂ, ਇਤਿਅਦੀ ਦੀ ਕਾਂਟੈਕਟ ਰੇਜਿਸਟੈਂਸ ਨੂੰ ਪੇਰੀਓਡਿਕ ਢੰਗ ਨਾਲ ਟੈਸਟ ਕਰਨਾ, ਗਰੀਬ ਕਾਂਟੈਕਟ ਦੀ ਵਿਚ ਹੋਣ ਵਾਲੀ ਓਵਰਹੀਟਿੰਗ ਅਤੇ ਬਰਨਾਉਟ ਫੈਲਟਾਂ ਨੂੰ ਰੋਕਣ ਲਈ, ਗ੍ਰਿੱਡ ਦੀ ਸਥਿਰਤਾ ਨੂੰ ਯੱਕੀਨੀ ਬਣਾਉਣ ਲਈ।

1. ਛੋਟਾ ਟੈਸਟ ਕਰੰਟ (ਜਿਆਦਾਤਰ 10A ਤੋਂ ਘੱਟ), ਜੋ ਵਾਸਤਵਿਕ ਑ਪਰੇਸ਼ਨਲ ਸਥਿਤੀ ਨੂੰ ਨਕਲ ਕਰਨ ਵਿੱਚ ਵਿਫਲ ਰਹਿੰਦਾ ਹੈ, ਇਸ ਲਈ ਡੈਟਾ ਦੀ ਸੰਬੰਧਤਾ ਕਮ ਹੁੰਦੀ ਹੈ।
2. ਦੋ-ਟਰਮੀਨਲ ਮੈਜੂਰਮੈਂਟ ਮੈਥਡ ਦੀ ਵਰਤੋਂ, ਜੋ ਟੈਸਟ ਲੀਡ ਕਾਂਟੈਕਟ ਰੇਜਿਸਟੈਂਸ ਦੀ ਵਾਰਡ ਇੰਟਰਫੀਅਰੈਂਸ ਨਾਲ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਜਿਸ ਦੇ ਕਾਰਨ ਵੱਡੇ ਤੱਤ ਹੁੰਦੇ ਹਨ।
3. ਵੱਡਾ ਸਾਮਾਨ, ਬਦਤਾਮਿਜ਼ੀ ਕਮ, ਸਬਸਟੇਸ਼ਨਾਂ ਵਿੱਚ ਮਲਟੀ-ਪੋਇਂਟ ਇੰਸਪੈਕਸ਼ਨ ਲਈ ਉਹ ਸਹੀ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦਾ।

ਔਦਯੋਗਿਕ ਇਲੈਕਟ੍ਰੀਕਲ ਸਾਧਨ ਦੀ ਗ੍ਰਹਣ (ਫੈਕਟਰੀ ਮੋਟਰਾਂ, ਡਿਸਟ੍ਰੀਬਿਊਸ਼ਨ ਕੈਬਨੈਟਸ, ਇਤਿਅਦੀ)

ਨਵੀਂ ਸਥਾਪਨਾ ਜਾਂ ਮੱਜ਼ਬੂਤ ਓਵਰਹੋਲ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਕਰੰਟ-ਕੈਰੀਂਗ ਪੈਥਾਂ (ਉਦਾਹਰਣ ਲਈ, ਕੈਬਲ ਜੰਕਸ਼ਨ, ਕੰਟੈਕਟਰ ਕੰਟੈਕਟ) ਦੀ ਸਰਕਿਟ ਰੇਜਿਸਟੈਂਸ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਨਾ, ਕਿ ਇਹ ਡਿਜ਼ਾਇਨ ਸਟੈਂਡਰਡਾਂ ਨੂੰ ਮੰਨਦੀ ਹੈ, ਕਿਉਂਕਿ ਕਮੀਸ਼ਨ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਰੇਜਿਸਟੈਂਸ ਦੇ ਕਾਰਨ ਸੁਰੱਖਿਆ ਦੀਆਂ ਘਟਨਾਵਾਂ ਨੂੰ ਰੋਕਣ ਲਈ।

1. ਇੰਟੀਗ੍ਰੇਟਡ ਟੈਸਟ ਸਾਮਾਨ ਦੀ ਕਮੀ, ਕਰੰਟ ਸੋਰਸ, ਐਮੀਟਰ, ਅਤੇ ਓਹਮਿਟਰ ਦੀ ਅਲਗ-ਅਲਗ ਕੰਫਿਗਰੇਸ਼ਨ ਦੀ ਲੋੜ, ਜਿਸ ਦੇ ਕਾਰਨ ਵਿਕਿਰਤਾ ਅਤੇ ਜਟਿਲ ਵਾਇਰਿੰਗ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।
2. ਕੁਝ ਟੈਸਟ ਇੰਸਟ੍ਰੂਮੈਂਟਾਂ ਦੀ ਵਾਤਾਵਰਣ ਦੇ ਤਾਪਮਾਨ ਤੋਂ ਗਲਤੀ ਆਉਣ ਦੀ ਕਮ ਸਹਿਣਸ਼ੀਲਤਾ, ਜੋ ਫੈਕਟਰੀ ਵਰਕਸ਼ਾਪਾਂ ਵਿੱਚ ਉੱਚ/ਨਿਮਨ ਤਾਪਮਾਨ ਵਿੱਚ ਡੈਟਾ ਦੀ ਵਹਿਸ਼ਟਾਂ ਦੇ ਕਾਰਨ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।

ਇਲੈਕਟ੍ਰੀਕਲ ਸਾਧਨ ਦੀ ਪ੍ਰੋਡੱਕਸ਼ਨ ਗੁਣਵਤਾ ਦੀ ਜਾਂਚ (ਸਵਿਚਾਂ, ਕੈਬਲ ਮੈਨੁਫੈਕਚਰਾਂ, ਇਤਿਅਦੀ)

ਫਿਨਾਲ ਪ੍ਰੋਡੱਕਟਾਂ ਦੀ ਸਰਕਿਟ ਰੇਜਿਸਟੈਂਸ ਦੀ ਬੈਚ ਟੈਸਟਿੰਗ ਕਰਨਾ, ਗੁਣਵਤਾ ਦੀ ਸਹੀ ਪਾਲਣਾ ਅਤੇ ਉਦਯੋਗ ਦੇ ਡੈਲਿਵਰੀ ਸਟੈਂਡਰਡਾਂ ਨੂੰ ਮੰਨਦਾ ਹੈ।

1. ਟ੍ਰੈਡਿਸ਼ਨਲ ਇੰਸਟ੍ਰੂਮੈਂਟਾਂ ਦੀ ਮਾਪ ਕਰਨ ਵਾਲੀ ਕਮ ਕਾਰਵਾਈ, ਜੋ ਮੱਸ ਪ੍ਰੋਡੱਕਸ਼ਨ ਲਈ ਤੇਜ਼ ਗੁਣਵਤਾ ਦੀ ਜਾਂਚ ਦੀਆਂ ਲੋੜਾਂ ਨੂੰ ਪੂਰਾ ਨਹੀਂ ਕਰ ਸਕਦਾ।
2. ਸਿਸਟੈਮਟਿਕ ਆਫਟਰ-ਸੈਲਜ਼ ਸਪੋਰਟ ਦੀ ਕਮੀ, ਸਾਮਾਨ ਦੀ ਖਰਾਬੀ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਲੰਬੀ ਰੈਪੇਅਰ ਸ਼ੁੱਕਰੀਆਂ, ਜੋ ਪ੍ਰੋਡੱਕਸ਼ਨ ਸਕੈਡੂਲਾਂ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਕਰਦਾ ਹੈ।