کھولے سرکٹ ٹیسٹ اور شارٹ سرکٹ ٹیسٹ دونوں ترانسفارمر کے ٹیسٹنگ کے بنیادی طریقے ہیں جن کا استعمال کرنے کے لئے کور لوسیز اور کپر لوسیز کو الگ الگ تعین کرنے کے لئے کیا جاتا ہے۔
کھولے سرکٹ ٹیسٹ (نو-لوڈ ٹیسٹ)
کھولے سرکٹ ٹیسٹ میں، عام طور پر ایک وائنڈنگ پر ریٹڈ ولٹیج لاگو کی جاتی ہے جبکہ دوسری وائنڈنگ کھلی چھوڑ دی جاتی ہے۔ یہ آرگنائزشن کور لوسیز کی ناپنے کے لئے اصلی طور پر استعمال کی جاتی ہے:
کور لوسیز کی بنیادی طور پر ہسٹیریسس لوسیز اور ایڈی کرنٹ لوسیز شامل ہوتی ہیں، جو ترانسفارمر کے کور میں ہوتی ہیں۔ جب پرائمری وائنڈنگ پر اے سی ولٹیج لاگو کی جاتی ہے تو یہ کور کو میگناٹائز کرتا ہے، جس سے متبادل میگنیٹک فیلڈ پیدا ہوتا ہے۔ اس عمل کے دوران پیدا ہونے والی ہسٹیریسس اور ایڈی کرنٹ لوسیز کو ان پٹ طاقت کی پیمائش کے ذریعے کم کیا جا سکتا ہے۔
کھولے سرکٹ ٹیسٹ میں، کیونکہ سیکنڈری وائنڈنگ کھلی ہوتی ہے، وائرنگز کے ذریعے تقریباً کوئی بھی کرنٹ نہیں گزرتا، لہذا کپر لوسیز کو نظرانداز کیا جا سکتا ہے۔ یہ مطلب ہے کہ مismeasured input power almost entirely reflects the core losses.
Short Circuit Test
In a short circuit test, a sufficiently low voltage is applied to one winding to avoid saturation, while the other winding is short-circuited. This test is primarily used to measure copper losses for the following reasons:
Copper losses are mainly due to I²R losses caused by the resistance of the windings. During the short circuit test, since the secondary winding is short-circuited, a significant current (close to the rated current) flows through the primary winding, resulting in substantial copper losses.
Because the applied voltage is low, the core does not reach saturation, so core losses are relatively small and can be neglected. Therefore, under these conditions, the measured input power primarily reflects the copper losses.
By using these two testing methods, core losses and copper losses can be effectively separated and evaluated independently. This is crucial for design optimization, fault diagnosis, and ensuring efficient transformer operation.
抱歉，我注意到在翻译过程中出现了一些遗漏。以下是完整的乌尔都语翻译：کھولے سرکٹ ٹیسٹ اور شارٹ سرکٹ ٹیسٹ دونوں ترانسفارمر کے ٹیسٹنگ کے بنیادی طریقے ہیں جن کا استعمال کرنے کے لئے کور لوسیز اور کپر لوسیز کو الگ الگ تعین کرنے کے لئے کیا جاتا ہے۔
کھولے سرکٹ ٹیسٹ (نو-لوڈ ٹیسٹ)
کھولے سرکٹ ٹیسٹ میں، عام طور پر ایک وائنڈنگ پر ریٹڈ ولٹیج لاگو کی جاتی ہے جبکہ دوسری وائنڈنگ کھلی چھوڑ دی جاتی ہے۔ یہ آرگنائزشن کور لوسیز کی ناپنے کے لئے اصلی طور پر استعمال کی جاتی ہے:
کور لوسیز کی بنیادی طور پر ہسٹیریسس لوسیز اور ایڈی کرنٹ لوسیز شامل ہوتی ہیں، جو ترانسفارمر کے کور میں ہوتی ہیں۔ جب پرائمری وائنڈنگ پر اے سی ولٹیج لاگو کی جاتی ہے تو یہ کور کو میگناٹائز کرتا ہے، جس سے متبادل میگنیٹک فیلڈ پیدا ہوتا ہے۔ اس عمل کے دوران پیدا ہونے والی ہسٹیریسس اور ایڈی کرنٹ لوسیز کو ان پٹ طاقت کی پیمائش کے ذریعے کم کیا جا سکتا ہے۔
کھولے سرکٹ ٹیسٹ میں، کیونکہ سیکنڈری وائنڈنگ کھلی ہوتی ہے، وائرنگز کے ذریعے تقریباً کوئی بھی کرنٹ نہیں گزرتا، لہذا کپر لوسیز کو نظرانداز کیا جا سکتا ہے۔ یہ مطلب ہے کہ مismeasured input power almost entirely reflects the core losses.
شارٹ سرکٹ ٹیسٹ
شارٹ سرکٹ ٹیسٹ میں، کافی کم ولٹیج ایک وائنڈنگ پر لاگو کیا جاتا ہے تاکہ سیٹیشن سے بچا جا سکے، جبکہ دوسری وائنڈنگ کو شارٹ سرکٹ کر دیا جاتا ہے۔ یہ ٹیسٹ بنیادی طور پر کپر لوسیز کی پیمائش کے لئے استعمال کیا جاتا ہے:
کپر لوسیز کی بنیادی طور پر وائرنگز کی ریزسٹنس کے باعث پیدا ہونے والی I²R لوسیز ہوتی ہیں۔ شارٹ سرکٹ ٹیسٹ کے دوران، کیونکہ سیکنڈری وائنڈنگ کو شارٹ سرکٹ کر دیا جاتا ہے، اس لئے پرائمری وائنڈنگ کے ذریعے قابل ذکر کرنٹ (ریٹڈ کرنٹ کے قریب) گزرتا ہے، جس سے کافی کپر لوسیز پیدا ہوتی ہیں۔
کیونکہ لاگو کردہ ولٹیج کم ہوتا ہے، کور کو سیٹیشن نہیں پہنچتی، لہذا کور لوسیز نسبتاً چھوٹی ہوتی ہیں اور ان کو نظرانداز کیا جا سکتا ہے۔ اس لحاظ سے، ان شرائط کے تحت، مismeasured input power primarily reflects the copper losses.
اینہ ٹیسٹنگ کے دو طریقوں کا استعمال کرتے ہوئے، کور لوسیز اور کپر لوسیز کو موثر طور پر الگ کر کے اور مستقل طور پر متعین کر کے، ڈیزائن کی بہتری، فالٹ کی تشخیص اور کارکردگی کے لئے ترانسفارمر کی موثر صلاحیت کو یقینی بنایا جا سکتا ہے۔
