Açık devre testi neden çekirdek kayıplarını verirken kısa devre testi bakır kayıplarını verir

Açık devre testleri ve kısa devre testleri, trafonun çekirdek kayıplarını ve bakır kayıplarını ayrı ayrı belirlemek için kullanılan iki temel yöntemdir.

Açık Devre Testi (Boş Yük Testi)

Açık devre testinde, genellikle bir sarımına nominal gerilim uygulanırken diğer sarım açık bırakılır. Bu kurulum, aşağıdaki nedenlerden dolayı çoğunlukla çekirdek kayıplarının ölçülmesi için kullanılır:

Çekirdek kayıpları çoğunlukla histerizis kayıpları ve fırıl akım kayıplarından oluşur, bu kayıplar trafonun çekirdeğinde meydana gelir. Bir AC gerilimi birincil sarıma uygulandığında, bu çekirdeği manyetize eder ve değişen bir manyetik alan oluşturur. Bu süreçte oluşan histerizis ve fırıl akım kayıpları, girdi gücünün ölçülmesiyle nicelleştirilebilir.

Açık devre testinde, ikincil sarım açık olduğundan, sarımlarda neredeyse hiç akım geçmediği için bakır kayıpları ihmal edilebilir. Bu, ölçülen girdi gücü neredeyse tamamen çekirdek kayıplarını yansıttığı anlamına gelir.

Kısa Devre Testi

Kısa devre testinde, doyuma ulaşmamak için yeterince düşük bir gerilim bir sarıma uygulanırken, diğer sarım kısa devre yapılır. Bu test, aşağıdaki nedenlerden dolayı çoğunlukla bakır kayıplarının ölçülmesi için kullanılır:

Bakır kayıpları çoğunlukla sarımların direncinden kaynaklanan I²R kayıplarına dayanır. Kısa devre testi sırasında, ikincil sarım kısa devre olduğundan, birincil sarımda önemli bir akım (nominal akıma yakın) akar, bu da önemli miktarlarda bakır kayıplarına yol açar.

Uygulanan gerilimin düşük olması nedeniyle, çekirdek doyum noktasına ulaşmaz, bu nedenle çekirdek kayıpları oldukça küçük olup ihmal edilebilir. Bu koşullar altında, ölçülen girdi gücü çoğunlukla bakır kayıplarını yansıtır.

Bu iki test yöntemi kullanılarak, çekirdek kayıpları ve bakır kayıpları etkili bir şekilde ayrılabilir ve bağımsız olarak değerlendirilebilir. Bu, tasarım optimizasyonu, arıza teşhisi ve verimli trafosun çalışması için kritik öneme sahiptir.