Cur cur testis circuitus aperti corem perdere dat dum testis circuitus brevis cuprum perdere dat
Experimenta circuiti aperti et experimenta circuiti clausi sunt duo methodi fundamentales in experimentis transformatorum ad separandam determinationem iacturaram nucleorum et iacturarum cupri.
Experimentum Circuiti Aperti (Experimentum Sine Onere)
In experimento circuiti aperti, solitum est applicare voltus nominalem ad unam spiram, dum altera spira relinquitur aperta. Hoc dispositivum principaliter utitur ad mensurandum iacturas nucleorum propter rationes sequentes:
Iacturae nucleorum principaliter constant ex iacturis hystereticis et iacturis currentium turbulencium, quae occurrunt in nucleo transformatoris. Quando voltus AC applicatur ad spiram primariam, magnetizat nucleum, generans campum magneticum alternativum. Iacturae hystereticae et currentium turbulencium productae in hoc processu quantificari possunt per mensuram potentiae input.
In experimento circuiti aperti, quia spira secundaria aperta est, fere nullus currentus per spiras fluens, ita iacturae cupri negligi possunt. Hoc significat, ut potentia input mensurata fere penitus reflectat iacturas nucleorum.
Experimentum Circuiti Clausi
In experimento circuiti clausi, sufficiens voltus parvus applicatur ad unam spiram ad saturationem evitandam, dum altera spira clauditur. Hoc experimentum principaliter utitur ad mensurandum iacturas cupri propter rationes sequentes:
Iacturae cupri principaliter oriuntur ex iacturis I²R causatis resistencia spirarum. In experimento circuiti clausi, cum spira secundaria claudita sit, magnus currentus (prope currentem nominalem) per spiram primariam fluit, resultans in substantialis iacturis cupri.
Quia voltus applicatus parvus est, nucleus non pervenit ad saturationem, ita iacturae nucleorum relativae parvae et negligi possunt. Ergo, sub his conditionibus, potentia input mensurata principaliter reflectit iacturas cupri.
Usando hos duos methodos experimentales, iacturae nucleorum et iacturae cupri separari et independenter evaluari possunt. Hoc est crucialis pro optimisatione designi, diagnosi defectus, et securando operatione efficienti transformatoris.
