ನೆಕ್ಕಳ ಪರೀಕ್ಷೆಯು ಮೂಲ ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ಒದಗಿಸುತ್ತದೆ ಎಂದರೆ ಕಡಿಮೆ ಪರೀಕ್ಷೆಯು ತಾಂದೂರು ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ಒದಗಿಸುತ್ತದೆ
ವಿದ್ಯುತ್ ಟ್ರಾನ್ಸ್ಫಾರ್ಮರ್ ಪರೀಕ್ಷೆಯಲ್ಲಿ ಮುಚ್ಚಿದ ಸರ್ಕುಯಿಟ್ ಪರೀಕ್ಷೆ ಮತ್ತು ಕಡಿಮೆ ಸರ್ಕುಯಿಟ್ ಪರೀಕ್ಷೆ ಎಂಬುದು ಎರಡು ಮೂಲಭೂತ ವಿಧಾನಗಳನ್ನು ಉಪಯೋಗಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ವಿಧಾನಗಳು ಕರ್ನ್ ನಷ್ಟ ಮತ್ತು ತಾಮ್ರ ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ವಿಭಿನ್ನಗೊಳಿಸಿ ನಿರ್ಧರಿಸಲು ಉಪಯೋಗಿಸಲಾಗುತ್ತವೆ.
ಮುಚ್ಚಿದ ಸರ್ಕುಯಿಟ್ ಪರೀಕ್ಷೆ (ನೋ-ಲೋಡ್ ಪರೀಕ್ಷೆ)
ಮುಚ್ಚಿದ ಸರ್ಕುಯಿಟ್ ಪರೀಕ್ಷೆಯಲ್ಲಿ ಒಂದು ವಿಂಡಿಂಗ್ ಗೆ ರೇಟೆಡ್ ವೋಲ್ಟೇಜ್ ಪ್ರಯೋಗಿಸಲ್ಪಟ್ಟರೆ ಇನ್ನೊಂದು ವಿಂಡಿಂಗ್ ಅನ್ನು ಮುಚ್ಚಿದ್ದು ಹೋಗುತ್ತದೆ. ಈ ಸೆಟ್-ಅಪ್ ಪ್ರಾಯೋಜನಗಳಿಗಾಗಿ ಕರ್ನ್ ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ಮಾಪಲು ಉಪಯೋಗಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ:
ಕರ್ನ್ ನಷ್ಟಗಳು ಮುಖ್ಯವಾಗಿ ಹಿಸ್ಟರೆಸಿಸ್ ನಷ್ಟಗಳು ಮತ್ತು ಇಡೀ ವಿದ್ಯುತ್ ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿರುತ್ತವೆ. ಇವು ಟ್ರಾನ್ಸ್ಫಾರ್ಮರ್ ಕರ್ನ್ನಲ್ಲಿ ಸಂಭವಿಸುತ್ತವೆ. ಪ್ರಾIMARY ವಿಂಡಿಂಗ್ ಗೆ ಏಸಿ ವೋಲ್ಟೇಜ್ ಪ್ರಯೋಗಿಸಿದಾಗ ಯಂತ್ರ ಕರ್ನ್ ನೆನಸೆಯಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಒಂದು ವಿಕಲೀನ ಚುಮ್ಬಕೀಯ ಕ್ಷೇತ್ರ ಉತ್ಪಾದಿಸುತ್ತದೆ. ಈ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಲ್ಲಿ ಉತ್ಪಾದಿಸುವ ಹಿಸ್ಟರೆಸಿಸ್ ಮತ್ತು ಇಡೀ ವಿದ್ಯುತ್ ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ಇನ್ಪುಟ್ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಮಾಪಿದ್ದರೆ ಕ್ವಾಂಟಿಫೈ ಮಾಡಬಹುದು.
ಮುಚ್ಚಿದ ಸರ್ಕುಯಿಟ್ ಪರೀಕ್ಷೆಯಲ್ಲಿ ಸೆಕೆಂಡರಿ ವಿಂಡಿಂಗ್ ಅನ್ನು ಮುಚ್ಚಿದ್ದರಿಂದ ವಿಂಡಿಂಗ್ಗಳ ಮೂಲಕ ದೋಡೆ ವಿದ್ಯುತ್ ಹರಡುತ್ತದೆ. ಆದ್ದರಿಂದ ತಾಮ್ರ ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ಉಪೇಕ್ಷಿಸಬಹುದು. ಇದರ ಅರ್ಥ ಇನ್ಪುಟ್ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಮಾಪಿದರೆ ಅದು ಮುಖ್ಯವಾಗಿ ಕರ್ನ್ ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ಪ್ರತಿಫಲಿಸುತ್ತದೆ.
ಕಡಿಮೆ ಸರ್ಕುಯಿಟ್ ಪರೀಕ್ಷೆ
ಕಡಿಮೆ ಸರ್ಕುಯಿಟ್ ಪರೀಕ್ಷೆಯಲ್ಲಿ ಒಂದು ವಿಂಡಿಂಗ್ ಗೆ ಸಂತೋಷಜನಕವಾದ ಕಡಿಮೆ ವೋಲ್ಟೇಜ್ ಪ್ರಯೋಗಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಇನ್ನೊಂದು ವಿಂಡಿಂಗ್ ಅನ್ನು ಕಡಿಮೆ ಸರ್ಕುಯಿಟ್ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ಪರೀಕ್ಷೆಯನ್ನು ಮುಖ್ಯವಾಗಿ ತಾಮ್ರ ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ಮಾಪಲು ಉಪಯೋಗಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ:
ತಾಮ್ರ ನಷ್ಟಗಳು ಮುಖ್ಯವಾಗಿ ವಿಂಡಿಂಗ್ಗಳ ನಿರೋಧಕತೆಯಿಂದ ಉತ್ಪಾದಿಸುವ I²R ನಷ್ಟಗಳಿಂದ ಸಂಭವಿಸುತ್ತವೆ. ಕಡಿಮೆ ಸರ್ಕುಯಿಟ್ ಪರೀಕ್ಷೆಯಲ್ಲಿ ಸೆಕೆಂಡರಿ ವಿಂಡಿಂಗ್ ಅನ್ನು ಕಡಿಮೆ ಸರ್ಕುಯಿಟ್ ಮಾಡಿದರಿಂದ ಪ್ರಾIMARY ವಿಂಡಿಂಗ್ ಗೆ ದೋಡೆ ವಿದ್ಯುತ್ ಹರಡುತ್ತದೆ (ರೇಟೆಡ್ ವಿದ್ಯುತ್ ಗಳಿಕೆ ಹತ್ತಿರ). ಇದರ ಫಲಿತಾಂಶವಾಗಿ ತಾಮ್ರ ನಷ್ಟಗಳು ದೊಡ್ಡ ಹರದಲ್ಲಿ ಸಂಭವಿಸುತ್ತವೆ.
ಕಡಿಮೆ ವೋಲ್ಟೇಜ್ ಪ್ರಯೋಗಿಸಿದಾಗ ಕರ್ನ್ ಸ್ಯಾಚುರೇಶನ್ ಹೊಂದು ಹೋಗುವುದಿಲ್ಲ. ಆದ್ದರಿಂದ ಕರ್ನ್ ನಷ್ಟಗಳು ಸಣ್ಣ ಮತ್ತು ಉಪೇಕ್ಷಿಸಬಹುದು. ಆದ್ದರಿಂದ ಈ ಶರತ್ತುಗಳಲ್ಲಿ ಇನ್ಪುಟ್ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಮಾಪಿದರೆ ಅದು ಮುಖ್ಯವಾಗಿ ತಾಮ್ರ ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ಪ್ರತಿಫಲಿಸುತ್ತದೆ.
ಈ ಎರಡು ಪರೀಕ್ಷೆಯ ವಿಧಾನಗಳನ್ನು ಉಪಯೋಗಿಸಿ ಕರ್ನ್ ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ಮತ್ತು ತಾಮ್ರ ನಷ್ಟಗಳನ್ನು ವಿಭಿನ್ನಗೊಳಿಸಿ ಮೌಲ್ಯಮಾಪನ ಮಾಡಬಹುದು. ಇದು ಡಿಜೈನ್ ಅಧಿಕಾರಿಕರಣ, ದೋಷ ನಿರ್ದೇಶನ ಮತ್ತು ಟ್ರಾನ್ಸ್ಫಾರ್ಮರ್ ನ ಹೆಚ್ಚು ಕ್ಷಮತೆಯ ಪ್ರದರ್ಶನ ಸಂಬಂಧಿ ಮುಖ್ಯವಾದ ವಿಷಯವಾಗಿದೆ.
