Uji sirkuit terbuka dan uji sirkuit pendek adalah dua metode dasar yang digunakan dalam pengujian transformator untuk menentukan kerugian inti dan kerugian tembaga secara terpisah.
Uji Sirkuit Terbuka (Uji Beban Kosong)
Dalam uji sirkuit terbuka, tegangan nominal biasanya diterapkan pada satu lilitan sementara lilitan lainnya dibiarkan terbuka. Penyetelan ini digunakan utamanya untuk mengukur kerugian inti karena alasan berikut:
Kerugian inti terutama terdiri dari kerugian histeresis dan kerugian arus eddy, yang terjadi di inti transformator. Ketika tegangan AC diterapkan pada lilitan primer, hal ini memagnetisasi inti, menghasilkan medan magnet bolak-balik. Kerugian histeresis dan arus eddy yang dihasilkan selama proses ini dapat dikuantifikasi dengan mengukur daya input.
Dalam uji sirkuit terbuka, karena lilitan sekunder terbuka, hampir tidak ada arus yang mengalir melalui lilitan, sehingga kerugian tembaga dapat diabaikan. Ini berarti bahwa daya input yang diukur hampir sepenuhnya mencerminkan kerugian inti.
Uji Sirkuit Pendek
Dalam uji sirkuit pendek, tegangan yang cukup rendah diterapkan pada satu lilitan untuk menghindari jenuh, sementara lilitan lainnya disirkuit pendek. Uji ini digunakan utamanya untuk mengukur kerugian tembaga karena alasan berikut:
Kerugian tembaga terutama disebabkan oleh kerugian I²R yang disebabkan oleh resistansi lilitan. Selama uji sirkuit pendek, karena lilitan sekunder disirkuit pendek, arus yang signifikan (mendekati arus nominal) mengalir melalui lilitan primer, menghasilkan kerugian tembaga yang substansial.
Karena tegangan yang diterapkan rendah, inti tidak mencapai jenuh, sehingga kerugian inti relatif kecil dan dapat diabaikan. Oleh karena itu, dalam kondisi ini, daya input yang diukur utamanya mencerminkan kerugian tembaga.
Dengan menggunakan kedua metode pengujian ini, kerugian inti dan kerugian tembaga dapat dipisahkan dan dievaluasi secara independen. Hal ini sangat penting untuk optimasi desain, diagnosis kesalahan, dan memastikan operasi transformator yang efisien.
