لماذا يعطي اختبار الدائرة المفتوحة خسائر النواة بينما يعطي اختبار الدائرة القصيرة خسائر النحاس

اختبارات الدائرة المفتوحة واختبارات الدائرة القصيرة هما طريقتان أساسيتان تستخدمان في اختبار المحولات لتحديد خسائر النواة وخسائر النحاس بشكل منفصل.

اختبار الدائرة المفتوحة (اختبار بدون حمل)

في اختبار الدائرة المفتوحة، يتم عادةً تطبيق الجهد المقنن على ملف واحد بينما يترك الملف الآخر مفتوحًا. يستخدم هذا الإعداد بشكل أساسي لقياس خسائر النواة للأسباب التالية:

تتكون خسائر النواة بشكل أساسي من خسائر الهستيريزيس وخسائر التيار الدوامي، والتي تحدث في نواة المحول. عند تطبيق جهد متناوب على الملف الأولي، فإنه يغناطيس النواة، مما يولد مجالًا مغناطيسيًا متغيرًا. يمكن تحديد خسائر الهستيريزيس والتيار الدوامي التي تنتج خلال هذه العملية عن طريق قياس الطاقة الداخلة.

في اختبار الدائرة المفتوحة، بما أن الملف الثانوي مفتوح، فلا يوجد تقريبًا أي تيار يمر عبر الملفات، وبالتالي يمكن إهمال خسائر النحاس. وهذا يعني أن الطاقة الداخلة المقيسة تعكس تقريبًا خسائر النواة بالكامل.

اختبار الدائرة القصيرة

في اختبار الدائرة القصيرة، يتم تطبيق جهد كافٍ منخفض على ملف واحد لتجنب التشبع، بينما يتم قصر الملف الآخر. يستخدم هذا الاختبار بشكل أساسي لقياس خسائر النحاس للأسباب التالية:

خسائر النحاس تنتج بشكل أساسي من خسائر I²R بسبب مقاومة الملفات. خلال اختبار الدائرة القصيرة، بما أن الملف الثانوي مقصور، يتدفق تيار كبير (قريب من التيار المقنن) عبر الملف الأولي، مما يؤدي إلى خسائر نحاس كبيرة.

بسبب انخفاض الجهد المطبق، فإن النواة لا تصل إلى التشبع، لذا فإن خسائر النواة تكون صغيرة نسبيًا ويمكن إهمالها. لذلك، تحت هذه الظروف، تعكس الطاقة الداخلة المقيسة بشكل أساسي خسائر النحاس.

من خلال استخدام هذين الطريقتين من الاختبار، يمكن فصل وتقدير خسائر النواة وخسائر النحاس بشكل فعال. هذا أمر ضروري لتحسين التصميم، وتشخيص الأعطال، وضمان تشغيل محول فعال.