בדיקות מעגל פתוח ובדיקות מעגל קצר הם שתי שיטות בסיסיות המשמשות בבדיקות טרנספורטר כדי לקבוע בנפרד את אובדן הליבה ואת אובדן הנחושת.
בדיקה של מעגל פתוח (בדיקה ללא עומס)
בבדיקה של מעגל פתוח, בדרך כלל מפעילים מתח נומינלי על סליל אחד בעוד הסליל השני נשאר פתוח. תצורה זו משמשת בעיקר מדידת אובדן הליבה מסיבות הבאות:
אובדן הליבה מתרכז בעיקר באובדן היסטרזה ואובדן זרמים עקיפים המתרחשים בליבת הטרנספורטר. כאשר מפעילים מתח חילופין על הסליל הראשי, זה מגנטיז את הליבה ויוצר שדה מגנטי מתחלף. האובדן ההיסטרי והעקיפי המתקבל בתהליך ניתן למדוד באמצעות מדידת כוח ההספק הזמין.
בבדיקה של מעגל פתוח, מכיוון שהסליל המשני פתוח, אין כמעט זרם זורם דרך הסלילים, כך שאובדן הנחושת יכול להתעלם. כלומר, כוח ההספק המודד משקף כמעט לחלוטין את אובדן הליבה.
בדיקה של מעגל קצר
בבדיקה של מעגל קצר, מפעילים מתח מספיק נמוך על סליל אחד כדי למנוע רוויה, בעוד הסליל האחר נמצא במעגל קצר. בדיקה זו משמשת בעיקר מדידת אובדן הנחושת מסיבות הבאות:
אובדן הנחושת נובע בעיקר מאובדן I²R שנגרם עקב התנגדות הסלילים. במהלך בדיקת המעגל הקצר, מאחר והסליל המשני נמצא במעגל קצר, זורם זרם משמעותי (קרוב לזרם הנומינלי) דרך הסליל הראשי, מה שגורם לאובדן נחושת משמעותי.
מאחר והמתח המושך הוא נמוך, הליבה אינה מגיעה לרוויה, כך שאובדן הליבה קטן יחסית ואפשר להתעלם ממנו. לכן, בתנאים אלו, כוח ההספק המודד משקף בעיקר את אובדן הנחושת.
בעזרת שתי שיטות הבדיקה הללו, ניתן להפריד ולשקלל באופן יעיל את אובדן הליבה ואת אובדן הנחושת. זהו גורם קריטי לחישובי אופטימיזציה של עיצוב, אבחון תקלות ובטיחת פעילות יעילה של הטרנספורטר.