Zašto otvoreni krug ispitivanja daje gubitke jezgra dok kratki krug ispitivanja daje bakrene gubitke
Test otvorenog kruga i test zatvorenog kruga su dve fundamentalne metode korišćene u testiranju transformatora kako bi se odvojeno odredile gubitci jezgra i gubitci bakra.
Test otvorenog kruga (test bez opterećenja)
U testu otvorenog kruga, obično se nominalna naponska razlika primenjuje na jednu vitičastu, dok druga vitičasta ostaje otvorena. Ova postavka se uglavnom koristi za merenje gubitaka jezgra iz sledećih razloga:
Gubitci jezgra se uglavnom sastoje od gubitaka histerese i strujnih talasa, koji se javljaju u jezgru transformatora. Kada se AC napon primeni na primarnu vitičastu, magnetizuje se jezgro, generišući alternativno magnetsko polje. Gubitke histerese i strujnih talasa proizvedene tokom ovog procesa može se kvantifikovati merenjem ulazne snage.
U testu otvorenog kruga, budući da je sekundarna vitičasta otvorena, praktično ne teče struja kroz vitičaste, tako da se gubitci bakra mogu zanemariti. To znači da merena ulazna snaga skoro u potpunosti odražava gubitke jezgra.
Test zatvorenog kruga
U testu zatvorenog kruga, dovoljno nizak napon se primenjuje na jednu vitičastu kako bi se izbegla nasitnica, dok se druga vitičasta zatvori. Ovaj test se uglavnom koristi za merenje gubitaka bakra iz sledećih razloga:
Gubitci bakra su uglavnom posledica I²R gubitaka uzrokovanih otporom vitičasti. Tijekom testa zatvorenog kruga, budući da je sekundarna vitičasta zatvorena, značajna struja (blizu nominalne struje) teče kroz primarnu vitičastu, što dovodi do značajnih gubitaka bakra.
Budući da je primenjeni napon nizak, jezgro ne dostiže nasitnicu, tako da su gubitci jezgra relativno mali i mogu se zanemariti. Stoga, pod ovim uslovima, merena ulazna snaga uglavnom odražava gubitke bakra.
Korišćenjem ove dve metode testiranja, gubitci jezgra i gubitci bakra mogu se efektivno odvojiti i proceniti nezavisno. Ovo je ključno za optimizaciju dizajna, dijagnozu grešaka i osiguranje efikasne operacije transformatora.
