Visokotražna laboratorijska standardna rešenja za transformator napon

Ⅰ. Tehnički fokus: Sledljivost na metrololijske standarde
Ovo rešenje se fokusira na nacionalni referentni sistem za merenje električne energije, koristeći nezavisno kontrolisanu lancanu sledljivosti kako bi se osiguralo da su rezultati merenja napona direktno sledljivi do Međunarodnog sistema jedinica (SI). Eliminiranjem kumulativnih grešaka u tradicionalnim uređajima za merenje, pruža kapacitete merenja napona na nivou referentnog standarda za napredne laboratorije.

Ⅱ. Temeljne tehnološke inovacije
Dvoetapna struktura kompenzacije grešaka transformatora napona
• Koristi dvostruku zatvorenu petlju sa primarnim + kompenzacionim vijcima, dinamički neutralizujući efekte uzbuđajućeg toka i curenja reaktancije putem realnog vremena obrtanog magnetnog fluksa. Ovo premaši teorijske granice tačnosti jednoetapnih transformatora.
• Tačnost kompenzacionih vijaka: ±0,5 ppm, omogućavajući automatsku korekciju nelinearnih grešaka na širokom opsegu (1%–120% Un).

• Termo-oljačni sistem kontrole temperature
  • Napunjeno visokostabilnim sintetičkim esterom izolacijskog ulja (koeficijent termičkog ekspanzije <100 ppm/°C).
  • Tro-etapni poluprovodnički sistem kontrole temperature:
  • Preciznost temperature olja: 55±0,05°C (premašuje zahtev od ±0,1°C)
  • Gradijent temperature: <0,3°C aksijalna varijacija kroz vijake
  • Termodinamička vremenska konstanta >8 sati; dnevna debljina <0,01°C.
• Ultra-niske TCR delilac napona na kvarcu
  • Rezistivni elementi na substratu ispaljenog kvartsa (CTE=0,55 ppm/°C).
  • Laser-trimirani tankoplenki metalni rezistori (NiCrAl legura):
  • Koeficijent temperaturne promene (TCR): <0,05 ppm/°C (prosječno testirano)
  • Koeficijent promene napona (VCR): <0,02 ppm/V
  • Godišnja stopa starenja: <3 ppm

Ⅲ. Scenariji primene
• Nacionalni instituti za metrolologiju - standardi napona
• Nadzor snage za opremu za proizvodnju čipova (npr. etčeri s rezolucijom 0,1 nm)
• Precizna certifikacija snaga za magneetsko ograničavanje u fusiji
• Referentna merenja specifičnog otpora novih poluprovodničkih materijala