Augstās precizitātes laboratorijas standarta sprieguma pārveidotāja risinājums

Ⅰ. Tehniskais fokuss: Atsekošana līdz mērījumu standartiem​
Šī risinājuma pamatā ir nacionālais elektriskās enerģijas mērījumu atskaites sistēmas, izmantojot neatkarīgi kontrolētu atsekošanas ķēdi, lai nodrošinātu, ka sprieguma mērījumu rezultāti tiek tieši atsekoti līdz Starptautiskajai mērvienību sistēmai (SI). Tā novērš kaskādveida kļūdas, kas raksturīgas tradicionāliem mērījumu ierīču, nodrošinot atskaites klases sprieguma mērījumu spējas augstākā līmeņa laboratorijām.

Ⅱ. Galvenās tehniskās inovācijas​
Dvēseļu sprieguma transformatora kļūdu kompensācijas struktūra​
• Izmanto divu slēgto ceļu dizainu ar primāro + kompensācijas vijkrātu, dinamiski kompensējot ieženēšanas strāvas un caurleju reakciju efektus reāllaika apgrieztā magnētiskā fluksa atcelšanā. Tas pārsniedz vienfaktora transformatoru teorētisko precizitātes robežas.
• Kompensācijas vijkrātu precizitāte: ±0.5 ppm, ļaujot automātiski labot nelīnijveida kļūdas plašā diapazonā (1%–120% Un).

• Termostātskābekļa temperatūras kontroles sistēma​
  • Apliekta ar augststabilitātes sintētisku esteru izolējošo eļļu (termiskā izplešanās koeficients <100 ppm/°C).
  • Trīsstāva poluprovadītāju temperatūras kontrole:
  • Eļļas temperatūras precizitāte: 55±0.05°C (pārsniedz ±0.1°C prasību)
  • Temperatūras gradienta: <0.3°C ass veidā pār vijkrātām
  • Termiskais laika konstants >8 stundas; ikdienas plūsmas <0.01°C.
•  Ultra zema TCR kvarts substrāta sprieguma dalītāja rezistori​
  • Rezistīva elementa uz sukatā kvarta substrāta (CTE=0.55 ppm/°C).
  • Lasertrimēti plakanās filmas metāla rezistori (NiCrAl allijs):
  • Temperatūras koeficients (TCR): <0.05 ppm/°C (testētais vidējais)
  • Sprieguma koeficients (VCR): <0.02 ppm/V
  • Gada novecināšanas rādītājs: <3 ppm

Ⅲ. Lietojuma scenāriji​
• Nacionālo mērījumu institūtu sprieguma standarti
• Jaudas monitorings čipu ražošanas iekārtām (piemēram, 0.1nm rādījuma etčēri)
• Precīzs sertifikācija magnetiskās konfinementa jaudas avotiem fūzijas ierīcēs
• Atskaites rezistivitātes mērījumi jaunākiem poluprovadītāju materiāliem