Hoognauwkeurige Laboratoriumstandaard Spanningstransformatoroplossing

Ⅰ. Technische Focus: Traceerbaarheid naar metrologische normen
Deze oplossing richt zich op het nationale elektrische energie metrologische referentiesysteem, waarbij gebruik wordt gemaakt van een onafhankelijk beheerde traceerbaarheidsketen om te zorgen dat de resultaten van spanningmetingen direct traceerbaar zijn naar het Internationaal Stelsel van Eenheden (SI). Door de kaskade fouten die inherent zijn aan traditionele meetapparatuur te elimineren, biedt het referentieniveau spanningmeetcapaciteiten voor geavanceerde laboratoria.

Ⅱ. Kern Technische Innovaties
Tweefasige spanningstransformator foutcompensatiestructuur
• Gebruikt een dubbele gesloten lusontwerp met primaire + compensatie windingen, die dynamisch de effecten van opwekstroom en lekkage reactant in real-time door middel van omgekeerde magnetische flux annuleren. Dit overtreft de theoretische nauwkeurigheidsgrenzen van enkele fasige transformatoren.
• Nauwkeurigheid van de compensatie winding: ±0,5 ppm, waardoor automatische niet-lineaire foutcorrectie mogelijk is over een breed bereik (1% - 120% Un).

• Thermostatische olie-immersse temperatuurregelingssysteem
  • Gevuld met hoge stabiliteit synthetische ester isolerende olie (thermale uitzettingscoëfficiënt <100 ppm/°C).
  • Driestapige halfgeleider temperatuurregeling:
  • Olietemperatuurnauwkeurigheid: 55±0,05°C (overstijgt ±0,1°C vereiste)
  • Temperatuurgradiënt: <0,3°C axiale variatie over windingen
  • Thermische tijdconstante >8 uur; dagelijkse drijf <0,01°C.
• Ultra-lage TCR kwartssubstraat spanningdelers
  • Weerstandselementen op gefuseerd kwartssubstraat (CTE=0,55 ppm/°C).
  • Lasergetrimde dunne laag metaalweerstanden (NiCrAl legering):
  • Temperatuurcoëfficiënt (TCR): <0,05 ppm/°C (gemeten gemiddelde)
  • Spanningscoëfficiënt (VCR): <0,02 ppm/V
  • Jaarlijkse verouderingsgraad: <3 ppm

Ⅲ. Toepassingsscenario's
• Nationaal metrologisch instituut spanningnormen
• Energiebewaking voor chipfabrikatiemachines (bijv., 0,1nm-resolutie etchers)
• Precisiecertificering van magnetische opsluitkrachtvoorzieningen in fusieapparatuur
• Referentieweerstandsmetingen voor nieuwe halvegeleidermaterialen