Visokonatančna laboratorijska standardna rešitev za preoblikovanje napetosti

Ⅰ. Tehnično osrednje področje: sledljivost do merilnih standardov​
Ta rešitev se osredotoča na nacionalni referenčni sistem za električno energijo, uporablja samostojno nadzorovano verigo sledljivosti, da zagotovi, da so rezultati meritve napetosti neposredno sledljivi do Mednarodnega sistema enot (SI). Z odpravljanjem kaskadnih napak, ki so lastne tradicionalnim merilnim napravam, prinaša zmogljivosti merjenja napetosti z referenčno točnostjo za napredna laboratorijska okolja.

Ⅱ. Osnovne tehnološke inovacije​
Dvoetapna struktura kompenzacije napak pretvorbe napetosti​
• Uporablja dvojno zaprto zanko s primarnimi + kompenzacijskimi vijaki, dinamično odpravlja učinke vzbuževalnega toka in utrlih reaktanc ter realnega časovnega obratnega magnetnega toka. To presega teoretične meje natančnosti enoetapnih transformatorjev.
• Natančnost kompenzacijskih vijakov: ±0,5 ppm, omogoča avtomatsko popravljanje nelinearnih napak na širokem obsegu (1%–120% Un).

• Termoregulirani sistemi za kontrolo temperature v maslini​
  • Ispolnjen s visokostabilno sintetično estersko izolacijsko maslo (koeficient termične raztegljivosti <100 ppm/°C).
  • Troetapni polprevodniški sistem kontrole temperature:
  • Natančnost temperature masla: 55±0,05°C (preseganje zahtev ±0,1°C)
  • Temperaturni gradient: <0,3°C osni spremembi skozi vijake
  • Tepmični časovni konstanta >8 ur; dnevna odklona <0,01°C.
• Ultra-nizkokonstantni delilniki napetosti na kvarcni podlagi​
  • Ustvarjalni elementi na fuziranem kvarcu (CTE=0,55 ppm/°C).
  • Laser-trimirani tankoploski kovinski upori (NiCrAl zliha):
  • Temperaturni koeficient (TCR): <0,05 ppm/°C (pregledana povprečna vrednost)
  • Koeficient napetosti (VCR): <0,02 ppm/V
  • Letni starostenjski stopnja: <3 ppm

Ⅲ. Uporabni scenariji​
• Nacionalni merilni instituti za standard napetosti
• Nadzor energije za opremo za proizvodnjo čipov (npr. etčerji z ločljivostjo 0,1 nm)
• Točna certifikacija napajal za magnetno zadrževanje v napravah za združevanje
• Referenčne meritve specifičnega upora za nove polprevodniške materiale