Visoko precizna laboratorijska standardna rješenja za transformator naponalnika

Ⅰ. Tehnički fokus: Sledivost metrijskim standardima​
Ova rješenja usredotočena su na nacionalni referentni sustav za metriku električne energije, koristeći neovisno kontroliranu lanac sledivosti kako bi se osiguralo da su rezultati mjerenja napona direktno slijedivi prema Međunarodnom sustavu jedinica (SI). Eliminirajući kumulativne greške u tradicionalnim uređajima za mjerenje, pruža sposobnosti mjerenja napona referentne razine za napredna laboratorija.

Ⅱ. Ključne tehničke inovacije​
Dvoetapna struktura kompenzacije grešaka transformatora napona​
• Koristi dvostruku zatvorenu petlju s primarnim + kompenzacijskim zavojnicama, dinamički kompenzirajući efekte uzbuđajućeg toka i curenja reaktiviteta putem stvarnog vremenskog obrnutog magnetskog toka. Ovo premašuje teorijske granice točnosti jednoetapnih transformatora.
• Točnost kompenzacijske zavojnice: ±0,5 ppm, omogućujući automatsku korekciju nelinearnih grešaka u širokom rasponu (1%–120% Un).

• Termostatski sustav temperature u masti​
  • Napunjen visokostabilnom sintetičkom esterskom izolacijskom mašću (koeficijent termičkog širenja <100 ppm/°C).
  • Troetapni poluprovodnički kontrola temperature:
  • Preciznost temperature masta: 55±0,05°C (premašuje zahtjev ±0,1°C)
  • Gradijent temperature: <0,3°C aksijalna varijacija kroz zavojnice
  • Vremenska konstanta topline >8 sati; dnevni odmak <0,01°C.
• Ultra-niske TCR otpornike na kvarcnoj podlozi​
  • Otporni elementi na spajanom kvarcu (CTE=0,55 ppm/°C).
  • Lazer presječeni tanak film metalnih otpornika (NiCrAl legura):
  • Temperaturni koeficijent (TCR): <0,05 ppm/°C (prosječno testirano)
  • Koeficijent napona (VCR): <0,02 ppm/V
  • Godišnja stopa starenja: <3 ppm

Ⅲ. Scenariji primjene​
• Nacionalni standardi napona metroloških instituta
• Nadzor nad snabdevanjem strujom opreme za proizvodnju čipova (npr., etčeri s rezolucijom 0,1 nm)
• Precizna certifikacija napajanja za postrojave za magnetnu konfinaciju u fuzijskim uređajima
• Referentna mjerenja otpornosti novih poluvodičnih materijala