Solusyon ng Mataas na Katumpakan ng Laboratoryong Pamantayan ng Boltagen

Ⅰ. Technical Focus: Traceability to Metrological Standards
Ang solusyon na ito ay nakatuon sa pambansang sistema ng metrolohiya ng enerhiyang elektriko, na gumagamit ng independiyenteng pinagmumulan na chain ng traceability upang tiyakin na ang mga resulta ng pagmemeasure ng voltage ay direktang ma-traceable sa International System of Units (SI). Sa pamamagitan ng pag-eliminate ng mga cascading errors na inherent sa mga tradisyonal na device ng pagmemeasure, ito ay nagbibigay ng kakayahan sa pagmemeasure ng voltage na may reference-grade para sa mga advanced laboratory.

Ⅱ. Core Technical Innovations
Dual-Stage Voltage Transformer Error Compensation Structure
• Gumagamit ng dual closed-loop design na may primary + compensation windings, na dynamic na nagsasara ng mga epekto ng excitation current at leakage reactance sa pamamagitan ng real-time reverse magnetic flux cancellation. Ito ay lumalampas sa theoretical accuracy limits ng single-stage transformers.
• Accuracy ng compensation winding: ±0.5 ppm, na nagbibigay ng automatic nonlinear error correction sa wide range (1%–120% Un).

• Thermostatic Oil-Immersion Temperature Control System
  • Napuno ng high-stability synthetic ester insulating oil (thermal expansion coefficient <100 ppm/°C).
  • Triple-stage semiconductor temperature control:
  • Precision ng temperatura ng langis: 55±0.05°C (lumalampas sa requirement na ±0.1°C)
  • Gradient ng temperatura: <0.3°C axial variation across windings
  • Thermal time constant >8 oras; daily drift <0.01°C.
•  Ultra-Low TCR Quartz-Substrate Voltage Divider Resistors
  • Resistive elements sa fused quartz substrate (CTE=0.55 ppm/°C).
  • Laser-trimmed thin-film metal resistors (NiCrAl alloy):
  • Temperature coefficient (TCR): <0.05 ppm/°C (tested average)
  • Voltage coefficient (VCR): <0.02 ppm/V
  • Annual aging rate: <3 ppm

Ⅲ. Application Scenarios
• Pambansang instituto ng metrology voltage standards
• Power monitoring para sa chip manufacturing equipment (e.g., 0.1nm-resolution etchers)
• Precision certification ng magnetic confinement power supplies sa fusion devices
• Reference resistivity measurements para sa bagong semiconductor materials