照度は、検出器の面積で受け取られる放射フラックスである。照度の単位はW/m2である。照度はEe,λと表記される。
φsは、検出器表面で受け取られる放射フラックスであり、ADは検出器の面積または表面を示す。
照度は常に逆二乗則に従う。ある点光源から放射フラックスがA1とA2の等しい表面積を持つ2つの表面で受け取られる場合を考える。これらはr1とr2の距離にある。
ここで、フラックスを受け取る表面
そして、表面によって受け取られるフラックス
ここで、Ie,λは放射強度、ωは立体角を表す。
また、放射フラックスがA1とA2の単位面積あたりで受け取られるのは
ここで、A1とA2は等しい。
φe,λ = Ie,λ ωを方程式に代入すると
これが照度の逆二乗則である。
この照度を照度に変換するには、以下の変換式を使用する。
ここで、Kmは最大スペクトル輝度効率と呼ばれる定数であり、その値は683 lm/Wである。
定義によれば、光束が単位面積の検出器で受け取られるものを照度という。
その単位はLuxまたはルーメン毎平方メートル(lm/sq. m)である。
これも同じ逆二乗則に従う。
Evは、光束がこの表面に垂直に落ちる表面dAに関連している。
E’vは、この表面が基準面に対して角度θを作る表面dA’に関連している。
上記の図に基づいて、
上記の方程式は一般化して書くことができる。
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