マイクロコンピュータ保護装置の機能試験：保護性能と信頼性の検証
1. 試験装置の選択
マイクロコンピュータ保護装置の主な試験装置は、マイクロコンピュータリレー保護試験装置、三相電流発生器、マルチメーターです。
高圧のマイクロコンピュータ保護装置の試験には、三相電圧と三相電流を同時に出力でき、デジタル入力のタイミング機能を備えたマイクロコンピュータリレー保護試験装置を使用することをお勧めします。
低圧のマイクロコンピュータ保護装置の試験では、電流サンプリング信号が電流変換器（CT）を通じて保護装置に送られる場合、マイクロコンピュータリレー保護試験装置を使用できます。ただし、電流サンプリング信号が専用センサーを通じて直接保護装置に入力される場合は、一次側に試験電流を適用するために三相電流発生器を使用する必要があります。
2. 試験時の注意事項
試験装置と盤は信頼性のある接地が必要で、マイクロコンピュータ保護装置と試験装置が共通の接地を持つようにしてください。
マイクロコンピュータ保護装置が電源が入っている間や試験中は、装置モジュールを取り外したり、回路基板に触れたりしないでください。モジュールの交換が必要な場合は、まず電源を切って外部試験電源を切断し、作業者は静電気を放電するか、静電気防止リストバンドを着用してから作業を進めてください。
試験中に試験リードを変更する際、誤って低圧または通信端子に高電圧を加えないようにしてください。
試験点の選択は正確に行う必要があります。試験装置からの電圧および電流リードは、保護装置の端子に直接接続するのではなく、計器変換器の一回側に接続する必要があります。これにより、取得中の信号減衰の評価が可能になり、試験の完全性が確保されます。
3. 試験前の準備
マイクロコンピュータ保護装置のマニュアルまたは試験手順を慎重に読み、マニュアル、装置の銘板、実際の配線図、システムの電圧および電流変換器比の一致を確認してください。
試験前にマイクロコンピュータ保護試験装置のマニュアルを十分に読み、その操作方法を習得してください。誤った操作により保護装置に過大な電圧または電流が加わり、損傷する可能性があります。
保護装置のすべてのネジとクイックコネクトモジュールをしっかりと固定し、確実な接続を保証してください。
保護メニューにアクセスして保護設定を行います。各設定値の意味を完全に理解し、設定シートを整理してラベル付けし、後での確認が容易になるようにしてください。
4. 交流回路の校正
盤内のCT二次側に配線図に基づいて試験電流を適用します。取り外したボルトは適切にマークして保管してください。端子台で電圧アナログ試験を行うことができますが、電圧がバスバーに伝播しないように注意してください。
試験装置で電圧および電流の大きさと位相を調整します。試験値を適用した後、装置のLCDに表示されたサンプリング値と試験装置の実際の値を記録します。両者の誤差は±5%未満であるべきです。上昇（0％、50％、100％）と下降（100％、50％、0％）の3点でデータを記録します。表示値は上下の試験で大きな違いがないはずです。次の表形式で記録してください。
5. デジタル入力/出力（DI/DO）チェック
デジタル入力/出力チェックは機能試験と一緒に実施してください。
5.1. デジタル入力（DI）チェック
マイクロコンピュータ保護装置のデジタル入力には2種類あります。1つ目はハード接触入力—外部スイッチ接触が装置に直接接続されています。外部接触が閉じると、対応する定義された信号が表示されます。2つ目はソフト接触入力—内部ロジック応答であり、過電流障害が発生したときにパネルに「過電流トリップ」信号が表示されます。
DIチェックは図面に基づいて1つずつ行う必要があります。関連機器を操作して接触状態を変更します。LCDまたは盤のインジケータライトに表示される状態もそれに応じて変化するはずです。信頼性を確保するため、各デジタル入力は少なくとも3回試験を行う必要があります。
保護装置のバックプレーン端子で直接接触閉鎖をシミュレートすることは決して行ってはなりません。システムが機器の状態を表示しないか、誤って表示する場合のみ、端子のシミュレーションを使用して故障が保護装置、配線、または機器にあるかどうかを判断してください。
5.2. デジタル出力（DO）チェック
DO接触もまたハードとソフトの2種類に分かれます。ハードDO状態はマルチメーターで測定できます。ソフトDO状態の変化は論理的な挙動に基づいて判断する必要があります。
5.3. デジタル信号チェック
アラーム信号接触チェック：論理に基づいて対応する障害をシミュレートします。アラームが表示されないか、誤って表示される場合は装置に故障があります。たとえば、PTヒューズ障害をシミュレートすると、LCDに「PTヒューズ障害アラーム」が表示され、「アラーム」LEDが点灯し、「信号リレー」が動作するはずです。アラーム信号接触は瞬時型です。
トリップ信号接触チェック：トリップ信号接触はソフト接触です。保護トリップ動作後、LCDには「xx保護トリップ」が表示され、CPUは「トリップ」LEDを点灯し、対応する「トリップ信号リレー」を動作させます。「トリップ」LEDと中央信号接触は保持型（ラッチ型）です。
トリップ出力接触チェック：トリップ出力接触はハード接触です。トリップ動作後、保護装置はトリップ出力リレーを動作させてトリップ出力接触を閉じます。これらの接触は保持型（ラッチ型）です。
6. 保護機能試験
保護機能試験はマイクロコンピュータ保護装置試験の核心であり、正しい設定値、トリップ時間、出力性能の確認に焦点を当てています。
定時間保護試験
接近法：他の保護機能を無効にして誤トリップを防ぎます。時間遅延を0秒に設定します。試験装置を使用して0.1Aステップで設定トリップ値に接近し、装置がトリップコマンドを発するまで進めます。実際の動作値を記録し、設定値の±5％以内であることを確認します。次に、時間遅延を指定値に設定し、記録された実際の動作値を適用します。測定されたトリップ時間も設定時間の±5％以内であることを確認します。
固定値法：他の保護を無効にします。設定トリップ値の0.95倍、1.05倍、1.2倍を適用します。0.95倍では保護は動作せず、1.05倍では必ず動作し、1.2倍ではトリップ時間を試験します。測定された時間が設定時間の±5％以内であることを確認します。
6.2. 反時間保護試験
他の保護を無効にします。反時間曲線上の1点に対応する試験値を適用します。保護動作時間を測定し、式から計算された理論時間と比較します。誤差は±5％以内であるべきです。5つの異なる点で試験することをお勧めします。
試験後の検証
設定値の確認：試験中に頻繁に有効/無効を切り替えるため混乱する可能性があります。すべての試験を完了したら、2人の人員が共同で設定値を確認してください。
取り外した配線の復元：図面またはマーキングに基づいてすべての取り外したワイヤを復元し、正しい再接続を確認してください。電流回路を復元する際は、CTの極性が逆にならないようにし、保護線が測定回路に接続されないように注意してください。
端子台リンクの確認：端子台上で開けられたリンクを再接続し、指定された人員によって検査を行ってください。接続されている場合でも、ドライバーで締め直して緩みを防ぐようにしてください。
すべてのコアワイヤ端子の締め直し：試験中に緩むことを防ぐために、試験後にすべてのワイヤ端子を再締めして確実な圧着を確認してください。
