Mikrokompüter Korporasiya Qoruma Cihazlarının Fonksional Testlənməsi: Qoruma Performansı və İtminnətin Təsdiqlənməsi

Oliver Watts

Alan: İncəsənmə və Sınaq

China

1. Test Aletlərinin Seçimi
Mikrokompyuter qoruyucu cihazları test etmək üçün əsas test aletləri şunlardır: mikrokompyuter röley qoruyucu test cihazı, üç fazalı dərəcəli nəqil generatoru və multimeter.

Yüksək dərəcəli mikrokompyuter qoruyucu cihazlarını test etmək üçün, eyni anda üç fazalı dərəcə və üç fazalı dərəcəli nəqil çıxaran və dijitallı girişlər üçün vaxtlayıcı funksiyaya malik olan mikrokompyuter röley qoruyucu test cihazı təklif olunur.
Nizamən dərəcəli mikrokompyuter qoruyucu cihazlarını test etmək üçün, əgər dərəcəli nəqil işarəsi dərəcəli nəqil (CT) vasitəsilə qoruyucu cihaza çatdırılırsa, mikrokompyuter röley qoruyucu test cihazı istifadə edilə bilər. Amma əgər dərəcəli nəqil işarəsi xüsusi sensor vasitəsilə doğrudan qoruyucu cihaza çatdırılırsa, test dərəcəsini asılı tarafa tətbiq etmək üçün üç fazalı dərəcəli nəqil generatoru istifadə etmək lazımdır.

mikrokompyuter röley qoruyucu test cihazı.jpg

2. Test Etmə Zamanı Qeyd Etmələr

Test aleti və şkaf hər ikisi də etibarlı olaraq yerə bağlanmalıdır ki, mikrokompyuter qoruyucu cihaz və test cihazı eyni yerə sahib olsun.
Mikrokompyuter qoruyucu cihaz enerjiyə qoşulduqda və ya test zamanı, cihaz modullarını daxil etmək və ya çıxarmamaq, mühərrik ləvazimatına toxunmamaq lazımdır. Modulun dəyişdirilməsi lazımsa, öncə enerji kəskinləşdirilməlidir, xarici test enerjisi kəskinləşdirilməlidir və personel beden statik enerjisini boşaltmalı və ya anti-statik bileziq takmalıdır.
Test zamanı, test ipalarını dəyişdirmək zamanı, nizamən dərəcəli və kommunikasiya terminalına yüksək dərəcəli nəqil tətbiq etməmək lazımdır.
Test nöqtəsinin seçimi doğru olmalıdır. Test cihazından gələn dərəcə və dərəcəli nəqil ipaları doğrudan qoruyucu cihaz terminalına bağlanmamalıdır, onlar ölçmə transformatoru asılı tarafa bağlanmalıdır. Bu, alıcılıq zamanı işarə zayıflamasının qiymətləndirilməsinə və testin tamamlığının təmin edilməsinə imkan verir.

3. Test Etmedən Əvvəl Hazırlığı

Mikrokompyuter qoruyucu cihazın qaydalarını və ya test prosedurlarını diqqətlə oxuyun. Qaydalar, cihaz plakası, faktiki şəbəkə sxemaları, sistem dərəcəli və dərəcəli nəqil nisbətləri arasındakı uyğunluğu yoxlayın.
Test etməzdən əvvəl, mikrokompyuter qoruyucu test cihazının qaydalarını diqqətlə oxuyun və onun operasiyasında bacarıqlılaşın. Yanlış operasiyalardan qoruyucu cihaza artıq dərəcə və ya dərəcəli nəqil tətbiq edilməsi, potensial olaraq zədələnə bilər.
Qoruyucu cihazın bütün bujlardan və tez bağlanan modullarından emin olun ki, etibarlı bağlantılar var.
Qoruyucu menyunu açın və qoruyucu ayarlarını qurun. Hər bir ayar deyərinin mənasını tam anlayın, ayar cədvəlini təşkil edin və etiketləyin ki, daha sonra asanlıqla yoxlamaq mümkün olsun.

4. Alternativ Sirkuit Kalibrasiyası

Sxemaya görə, şkaf CT-nin asılı tarafında test dərəcəsini tətbiq edin. Çıxarılan bujlardan düzgün şəkildə qeyd edin və saxlayın. Dərəcə analog testi terminal bloklarında edilə bilər, amma dərəcənin şina xətlərinə yayılmaması lazımdır.
Test cihazında dərəcə və dərəcəli nəqilin dərəcə və fazasını tənzimləyin. Test dəyərlərini tətbiq etdikdən sonra, cihazın LCD-da göstərilən nümunə dəyərlərini və test cihazından real dəyərləri yazın. İkisi arasında olan səhv ±5% dan az olmalıdır. Üç nöqtədə məlumatı yazın: artan (0%, 50%, 100%) və azalan (100%, 50%, 0%). Göstərilən dəyərlər arasında aşağı və yuxarı testləri arasında əhəmiyyətli fərq olmamalıdır. Məlumatı yazmaq üçün aşağıdakı cədvəl formatını istifadə edin.

mikrokompyuter röley qoruyucu test cihazı.jpg

5. Dijital Giriş/Çıxış (DI/DO) Yoxlamaları

Dijital giriş/çıxış yoxlamaları funksional testlərlə birlikdə edilməlidir.

5.1. Dijital Giriş (DI) Yoxlaması

Mikrokompyuter qoruyucu cihazların dijital girişləri iki növdür. Birincisi, hard kontakt girişləri—dış switch kontakları cihaza doğrudan bağlanır. Dış kontakt bağlandıqda, müəyyən edilmiş işarə ekranında görünür. İkincisi, soft kontakt girişləri—iç logic cavabları, məsələn, dərəcəli nəqil səbəbindən "dərəcəli nəqil trip" işarəsi panelində görünür.
DI yoxlamaları sxemaya görə bir-biri ardınca edilməlidir. İlgili ehtiyac məhsullarını işə salaraq kontakt hallarını dəyişdirin. LCD və ya şkaf göstərici işıqlarında göstərilən status dəyişməlidir. Etibarlı işləmə üçün hər bir dijital giriş en az üç dəfə test edilməlidir.
Heç bir halda, qoruyucu cihazın arxa panel terminalində direkt kontakt bağlanmasını simulyasiya etməyin. Yalnız sistem təchizat statusunu göstərmir və ya yanlış göstərdikdə, terminal simulyasiyası, qoruyucu cihaz, şəbəkə və ya təchizatda səhv olduğunu müəyyən etmək üçün istifadə edilməlidir.

5.2. Dijital Çıxış (DO) Yoxlaması

DO kontaktları da hard və soft növlərə bölünür. Hard DO statusu multimeter ilə ölçülə bilər. Soft DO statusunun dəyişməsi loqik davranışa əsaslanarak qiymətləndirilməlidir.

5.3. Dijital İşarə Yoxlamaları

Alarm İşarə Kontakt Yoxlaması: Loqika əsasında uyğun səhvləri simulyasiya edin. Alarm gözlənilən amma göstərilən və ya yanlış olduğunda, cihaz səhvdir. Məsələn, PT lülesinin səhvlərinin simulyasiya edilməsi, LCD-də "PT lülesi səhvi alarmı", "Alarm" LED-i yanma və "İşarə Röleyi" aktivləşməsi nəticəsində olmalıdır. Alarm işarə kontaktları momentaldır.
Trip İşarə Kontakt Yoxlaması: Trip işarə kontaktları soft kontaktlardır. Qoruyucu trip fəaliyyəti sonra, LCD-də "xx qoruyucu trip" göstərilməlidir, CPU "Trip" LED-ini yandırmalıdır və uyğun "Trip İşarə Röleyi" aktivləşməlidir. Trip LED və mərkəzi işarə kontaktları sabitləşdirilir (sabitləşdirilir).
Trip Çıxış Kontakt Yoxlaması: Trip çıkış kontaktları hard kontaktlardır. Trip fəaliyyəti sonra, qoruyucu cihaz trip çıkışı röleyini aktivləşdirir və trip çıkışı kontaktını bağlayır. Bu kontaktlar sabitləşdirilir (sabitləşdirilir).

6. Qoruyucu Funksiya Testləri
Qoruyucu funksiya testləri, mikrokompyuter qoruyucu cihazlarının testlərinin mərkəzidir, düzgün ayar dəyərlərinin, trip vaxtının və çıxış performansının yoxlanması üzərində odaklanır.
Belirlənmiş Vaxtlu Qoruyucu Testləri

Yanaşma Metodu: Digər qoruyucu funksiyaları söndürün, yanlış tripə mane olun. Vaxt gecikməsini 0s-a təyin edin. Test cihazı ilə 0.1A addımları ilə belirlənmiş trip dəyərinə yanaşın, cihaz trip komandası verməyə başlayana qədər. Faktiki fəaliyyət dəyərini yazın, bu dəyər təyin edilən dəyərdən ±5% aralığında olmalıdır. Sonra vaxt gecikməsini təyin edilən dəyərə təyin edin və yazdığınız faktiki fəaliyyət dəyərini tətbiq edin. Ölçülmüş trip vaxtı təyin edilən vaxtdan ±5% aralığında olmalıdır.
Sabit Dəyər Metodu: Digər qoruyucuları söndürün. 0.95×, 1.05× və 1.2× təyin edilən trip dəyərini tətbiq edin. Qoruyucu 0.95×-də fəaliyyət göstərməməlidir, 1.05×-də fəaliyyət göstərməlidir və 1.2×-də trip vaxtı test edilməlidir. Ölçülmüş vaxt təyin edilən vaxtdan ±5% aralığında olmalıdır.

6.2. Ters Vaxtlu Qoruyucu Testləri
Digər qoruyucuları söndürün. Ters vaxt eğrisində bir nöqtəyə uyğun test dəyərini tətbiq edin. Qoruyucu fəaliyyət vaxtını ölçün və formuldan hesablanan nəzəri vaxtlarla müqayisə edin. Səhv ±5% aralığında olmalıdır. Beş fərqli nöqtədə test etməsi tövsiyə olunur.

Test Sonrası Yoxlama

Ayar Dəyərlərini Yoxlama: Test zamanı tez-tez aktivləşdirilir/söndürülür, bu səbəbdən, bəzən səhv ola bilər. Bütün testləri tamamladıqdan sonra, iki personel birlikdə bütün ayarları yoxlamağa davam edin.
Kəskinləşdirilmiş Şəbəkəni Bərpa Etme: Rəsmilər və ya işarələrə görə, kəskinləşdirilmiş bütün telləri bərpa edin, düzgün birləşməsinin təmin edilməsini yoxlayın. Dərəcəli nəqil şəbəkələri bərpa etdikdə, CT polarnı tərsinə çevirin və qoruyucu tellərini ölçmə şəbəkələrinə bağlamaqdan qaçının.
Terminal Bloku Keçidlərini Yoxlama: Terminal bloklarında açılan keçidləri yenidən bağlayın və bir personel tərəfindən yoxlanılsın. Hətta bağlanmış olsa da, buraxılmasından qorumaq üçün keyləklə ilə sıxlayın.
Bütün Kəpənək Tellərini Sıxlamaq: Test zamanı buraxılmasından qorumaq üçün, testlər bitdikdən sonra, bütün kəpənək tellərini yenidən sıxlayın, etibarlı qısqaqlama təmin edin.