正如标题所示,当使用UHF方法对西门子GIS进行带电局部放电(PD)测试时——特别是通过套管绝缘子的金属法兰获取信号时——您不得直接移除套管绝缘子上的金属盖。
为什么?
只有尝试后才会意识到危险。一旦移除,GIS将在通电状态下泄漏SF₆气体!少说废话,直接看图。

如图1所示,红色框内的小铝盖通常是用户想要移除的部分。移除它可以让局部放电产生的电磁波逸出,从而可以使用离线PD设备进行检测。这种方法在许多品牌的GIS中都很常见。但为什么在西门子设备上移除它会导致气体泄漏呢?
西门子的套管绝缘子设计有两个密封圈。如图2所示:

编号01:位于套管绝缘子环氧树脂浇铸体上的第一个密封圈。
编号02:位于铝合金金属法兰上的第二个密封圈。
您打算移除的小铝盖就安装在这个金属法兰上。如果这两个密封圈是独立且不相连的,那么移除小盖(图1)不会带来风险——不会发生气体泄漏。
然而,在西门子的设计中,图2左下角有一个小缺口,将两个密封圈的气室连接在一起。为了更清楚地看到这一点,请参见放大后的图3。

由于这个小缺口(图3),GIS的气体密封不仅依赖于金属法兰上的第二个密封圈(编号02),还依赖于小铝盖本身。在小铝盖下面有高压SF₆气体——移除它,你会得到一个令人震惊的惊喜。

相比之下,对于像图4所示的单相套管绝缘子,两个密封圈并不相连。内部的高压SF₆气体主要由环氧套管上的第一个密封圈(编号01)密封。因此,如图5所示,移除小铝盖是安全的——不会发生气体泄漏。

结论:
在对任何制造商的GIS进行带电(离线型)局部放电测试之前,移除套管绝缘子上的任何小盖之前,始终要咨询制造商以确认是否可以安全移除——特别是在西门子设备上,不当移除可能会导致在通电状态下危险的SF₆气体泄漏。