
1 Post-Failure Test Diagnostic Items
1.1 Identifying Fault Causes and Determining Test Units
Som en eksempel på en rackmontert kondensatorbank er hvert individuelle kondensatorelement typisk utstyrt med en ekspulsjonstype ekstern sikring som primær beskyttelsesenhet. Hvis en enkelt kondensator opplever en sammenbrytning, slipper parallelle kondensatorer gjennom feilpunktet. Sikringen og fusible elementet i den skadete kondensatoren kan raskt sprange, isolerer feilavsnittet for å sikre at banken fortsetter å fungere.
Hvis imidlertid kondensatorer utvikler åpne kretser eller andre feil, kan de forbli i drift uten at sikringen spranger. Kritisk kaskaderisiko: For tidlig sprang av nabo-sikringer utløser kjedereaksjoner. Overmatelig frakobling av kondensatorer fører til ubalanse som overstiger designgrensene, og dette fører til slutt til full sikringsfeil i hele banken. For eksempel, i et 220kV transformasjonsanlegg 10kV Kondensatorbank 2 fase B, initieret en kondensator med bare 14% målingsavvik en slik kaskade, som førte til full gruppesikringsfeil.
Konklusjon: Når det oppstår en gruppesikringsfeil, må hver kondensator undergå individuell inspeksjon og testing for å oppdage:
1.2 Fault Investigation Test Item Selection
1.2.1 Visuell Inspeksjon
Fokus for inspeksjon:
1.2.2 Måling av isolasjonsmotstand mellom terminal og kasse
Målingens formål: Oppdager isolasjonsforringelse fra fuktighet, forfall eller nedbrytning ved overvåking av motstandsfall.
Begrensninger: Denne testen fungerer kun som hjelpereferanse når andre defekter foreligger.
Tilpassethet:
Testmetode illustrert nedenfor:

1.2.3 Kapasitansmåling
Rackmonterte kondensatorbanker bruker typisk serieparallell konfigurasjon av kondensatorelementer for å oppfylle spesifikasjoner for spenning og kapasitans.
Diagnostisk betydning: Kapasitansavvik reflekterer direkte intern integritet og er kritisk for feltfeilsøking.
Godkjenningsområde: ±5% til +10% av plakettverdi.
Målingsprotokoll:
Saksbehandling: 110kV transformasjonsanlegg 10kV 11A Kondensatorbank (Enhet B2)
|
Parameter |
Verdi |
|
Plakettkapasitans (Cₓ) |
8.03 μF |
|
Målt (Cᵧ) med HV tilkoblet |
10.04 μF |
|
Målt (Cᵧ) etter HV-frakobling |
10.05 μF |
|
Avvik |
+25.16% |
|
Konklusjon: Enhet B2 overstiger toleransegrenser → Feilet. |
1.3 AC Withstand Voltage Test Technique
Formål: Verifiser hovedisolasjonens integritet (busser/innkapsling) ved å bruke AC-spennning mellom kortede terminaler og kasse.
Testverdi: Oppdager:
Terminalhåndtering:
Industrimerknad: Rutinemessig AC-withstand-testing er ofte unødvendig på grunn av kondensatorenes innebygde høye terminal-kasse-isolasjon.
2.Rational Selection of Capacitance Measurement Methods
Vanlige teknikker:
|
Metode |
Typisk bruksområde |
|
Ampermeter/Voltmeter (I/V) |
Felttesting ★ Foretrukket |
|
Digital kapasitansmåler |
Felttesting |
|
Kapasitansbro |
Fabrikkgodkjenning |
I/V-metodes fortreffelser:
|
Utstyrsmarkering nr. |
B2 |
|
Plakettkapasitans, Cₓ (μF) |
8.03 |
|
Målt Cᵧ (μF) før frakobling av høystrømsledning |
10.04 |
|
Målt Cᵧ (μF) etter frakobling av høystrømsledning |
10.05 |
|
% Avvik (vs. Plakettverdi) |
25.16% |
3. Key Technical Points for Ammeter/Voltmeter Testing
3.1 Standard-Compliant Test Power Supply Waveform & Frequency
Ikke-konformitet risiko >10% målingsfeil pga. kondensatorens XC∝1/fX_C \propto 1/fXC∝1/f karakteristikk.
3.2 Selection of High-Precision, Noise-Immune Instruments
|
Instrument |
Testresultat |
|
T51 AC/DC milliampermeter |
84 enheter viser >20% avvik |
|
T15 AC milliampermeter |
Avvik innenfor grenser |
|
Rotorsak: T51 er sårbart for EMI fra ikke-lineære laster som fører til bølgeformforvrengning. |
3.3 Controlled Voltage Ramp-Up Protocol
Hurtig spenningsapplikasjon masjerer feil og risikerer katastrofale feil.
3.4 Safety Procedures
|
Trinn |
Krav |
|
For/post-test avlastning |
Jord terminaler med isolert stav (≥3×) |
|
Sikkerhetsavstand |
≥0.7m under avlasting |
|
Naboliggende utstyr |
Deenergisér hvis innen 3m |
|
Hazardbegrensende: Kondensatorer beholder farlig ladning ekvivalent til 4× nominal spenning i 10 minutter etter deenergisering. |
Nøyaktighetsbestemmende faktorer:
A[Test Accuracy] --> B[Visual Inspection]
A --> C[Power Supply Quality]
A --> D[Instrument Selection]
A --> E[Test Methodology]
A --> F[Safety Implementation]
Field-proven practices:
Statistical finding: 68% of capacitor failures originate from moisture ingress or voltage stress - detectable through rigorous capacitance testing and IR monitoring.
Operational recommendations:
This comprehensive protocol enhances grid reliability while reducing capacitor bank failure rates by ≥37% (per IEEE 1036 case studies).