কেন ওপেন সার্কিট টেস্ট রেটেড ভোল্টেজে পরিচালিত হয়?
ওপেন সার্কিট টেস্ট (Open Circuit Test, OCT), যা নো-লোড টেস্ট নামেও পরিচিত, সাধারণত ট্রান্সফরমারের নিম্ন-ভোল্টেজ দিকে রেটেড ভোল্টেজ প্রয়োগ করে পরিচালিত হয়। এই টেস্টের প্রধান উদ্দেশ্য হল নো-লোড অবস্থায় ট্রান্সফরমারের পারফরম্যান্স প্যারামিটারগুলি মাপা, যেমন উত্তেজনা বিদ্যুৎ, নো-লোড লস, এবং নো-লোড অবস্থায় ভোল্টেজ অনুপাত। নিম্নলিখিত হল টেস্টটি রেটেড ভোল্টেজে পরিচালিত হওয়ার কারণগুলি:
১. প্রকৃত পরিচালনা শর্তগুলির প্রতিফলন
রেটেড ভোল্টেজ হল ট্রান্সফরমারের ডিজাইনে নির্দিষ্ট মান পরিচালনা ভোল্টেজ, যা নিশ্চিত করে যে এটি সাধারণ শর্তাধীনে নিরাপদ এবং দক্ষভাবে পরিচালিত হবে। রেটেড ভোল্টেজে টেস্ট পরিচালনা করা হলে, এটি ট্রান্সফরমারের নো-লোড অবস্থাকে প্রকৃত ব্যবহারে সিমুলেট করে, যা আরও নির্ভুল পারফরম্যান্স ডাটা প্রদান করে।
এটি সাহায্য করে যাচাই করা যে ট্রান্সফরমার প্রত্যাশিত পরিচালনা শর্তগুলিতে সঠিকভাবে কাজ করতে পারে কিনা, অতিরিক্ত বা অপর্যাপ্ত ভোল্টেজের কারণে অস্বাভাবিক আচরণ ছাড়াই।
২. উত্তেজনা বিদ্যুতের মাপ
ওপেন সার্কিট টেস্টের সময়, ট্রান্সফরমারের সেকেন্ডারি দিকটি ওপেন-সার্কিট করা হয়, যার অর্থ কোন লোড বিদ্যুৎ এর মধ্য দিয়ে প্রবাহিত হয় না। এই সময়, প্রাথমিক দিকের বিদ্যুত প্রায় সম্পূর্ণরূপে উত্তেজনা বিদ্যুত দ্বারা গঠিত হয়, যা ট্রান্সফরমারের কোরে চৌম্বক ক্ষেত্র স্থাপন করতে ব্যবহৃত হয়।
উত্তেজনা বিদ্যুত, যদিও সাধারণত ছোট (সাধারণত রেটেড বিদ্যুতের ১% থেকে ৫% পর্যন্ত), রেটেড ভোল্টেজে মাপা হলে কোরের চৌম্বকীয় বৈশিষ্ট্যকে আরও নির্ভুলভাবে প্রতিফলিত করতে পারে। যদি ভোল্টেজ খুব বেশি বা খুব কম হয়, তাহলে উত্তেজনা বিদ্যুতের মাপ বিকৃত হতে পারে এবং ট্রান্সফরমারের উত্তেজনা বৈশিষ্ট্যগুলিকে নির্ভুলভাবে প্রতিফলিত করতে ব্যর্থ হতে পারে।
৩. নো-লোড লসের মূল্যায়ন
নো-লোড লস (যা লোহা লস নামেও পরিচিত) প্রধানত কোরের হিস্টারিসিস এবং এডি কারেন্ট লসের কারণে ঘটে, যা কোরের চৌম্বক ফ্লাক্স ঘনত্বের সাথে ঘনিষ্ঠভাবে সম্পর্কিত। চৌম্বক ফ্লাক্স ঘনত্ব, প্রয়োগকৃত ভোল্টেজের উপর নির্ভর করে।
রেটেড ভোল্টেজে টেস্ট করা নিশ্চিত করে যে মাপা নো-লোড লস ট্রান্সফরমারের সাধারণ পরিচালনার সময় প্রকৃত লস অবস্থাকে প্রতিফলিত করে। এটি ট্রান্সফরমারের দক্ষতা এবং শক্তি ব্যবহার মূল্যায়নের জন্য গুরুত্বপূর্ণ।
৪. ভোল্টেজ অনুপাত নির্ধারণ
ওপেন সার্কিট টেস্ট ট্রান্সফরমারের প্রাথমিক এবং সেকেন্ডারি দিকের মধ্যে ভোল্টেজ অনুপাত মাপার জন্যও ব্যবহার করা যেতে পারে। প্রাথমিক দিকে রেটেড ভোল্টেজ প্রয়োগ করে এবং সেকেন্ডারি দিকে ওপেন-সার্কিট ভোল্টেজ মাপলে, ট্রান্সফরমারের প্রকৃত টার্ন অনুপাত যাচাই করা যায় যে এটি ডিজাইন স্পেসিফিকেশন মেনেছে কিনা।
যদি টেস্ট রেটেড নয় ভোল্টেজে পরিচালিত হয়, তাহলে ভোল্টেজ অনুপাত মাপ ভোল্টেজ বিচ্যুতির কারণে প্রভাবিত হতে পারে, যা অনিশ্চিত ফলাফল প্রদান করতে পারে।
৫. নিরাপত্তা বিবেচনা
রেটেড ভোল্টেজে ওপেন সার্কিট টেস্ট পরিচালনা করা নিশ্চিত করে যে ট্রান্সফরমার অতিরিক্ত ভোল্টেজের কারণে অপ্রয়োজনীয় চাপ অনুভব করে না, যা সম্ভাব্য সরঞ্জাম ক্ষতি এড়াতে সাহায্য করে। আরও, উত্তেজনা বিদ্যুত সাধারণত ছোট হওয়ায়, টেস্ট প্রক্রিয়া টেস্টিং সরঞ্জামের উপর বেশি চাপ প্রয়োগ করে না, যা নিরাপদ টেস্টিং শর্ত নিশ্চিত করে।
৬. স্ট্যান্ডার্ডাইজেশন এবং তুলনা
শক্তি শিল্পে ট্রান্সফরমারের জন্য বিভিন্ন টেস্টিং পদ্ধতি এবং শর্ত নির্দিষ্ট করার জন্য কঠোর স্ট্যান্ডার্ড এবং নিয়মাবলী রয়েছে। রেটেড ভোল্টেজে ওপেন সার্কিট টেস্ট পরিচালনা করা একটি সার্বজনীনভাবে গৃহীত প্রথা, যা বিভিন্ন প্রস্তুতকারকদের দ্বারা উৎপাদিত ট্রান্সফরমারের সামঞ্জস্যপূর্ণ তুলনা এবং মূল্যায়ন সম্ভব করে।
সারাংশ
ওপেন সার্কিট টেস্ট রেটেড ভোল্টেজে পরিচালিত হয় যাতে টেস্টের ফলাফল প্রকৃত পরিচালনা শর্তগুলিতে ট্রান্সফরমারের পারফরম্যান্সকে নির্ভুলভাবে প্রতিফলিত করে, যার মধ্যে উত্তেজনা বিদ্যুত, নো-লোড লস, এবং ভোল্টেজ অনুপাত সহ গুরুত্বপূর্ণ প্যারামিটারগুলি অন্তর্ভুক্ত। এছাড়াও, এই পদ্ধতি টেস্টের নিরাপত্তা নিশ্চিত করে এবং ভিন্ন ট্রান্সফরমারের তুলনা এবং মূল্যায়নের জন্য স্ট্যান্ডার্ডাইজড ফলাফল প্রদান করে।