
II. 放電影響の定量的評価
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影響の次元 |
具体的な表現 |
リスクレベル |
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機器の損傷 |
釉薬の炭化、ハードウェアの侵食(>800℃) |
⭐⭐⭐⭐ |
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電磁干渉 |
30-300MHzのノイズが40dBを超える |
⭐⭐⭐ |
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システムの安定性 |
単一のフラッシュオーバーによりグリッド電圧が>15%低下 |
⭐⭐⭐⭐⭐ |
III. 全面的なソリューション
IV. 技術アップグレードパス
• 材料革命: 窒素化セラミックを複合絶縁体に置き換える(アーク耐性>250s、自律的な撥水性移行)。
• デジタルツイン統合: RFIDチップ+3D電界シミュレーションを組み込むことで、寿命予測誤差を≦5%とする。
結論
汚染分類、構造最適化、スマート診断の連携により、絶縁体の放電障害を0.03件/100km・年(IEEE 1523標準)まで削減し、グリッドの本質的安全性を大幅に向上させる。
主な利点