| Marca | Switchgear parts |
| Número de modelo | Fusibles de protección para equipos de semiconductores serie DNT-R1J |
| voltaje nominal | AC 1300V |
| corriente nominal | 350-800A |
| capacidad de interrupción | 100kA |
| Serie | DNT-R1J |
Los factores ambientales, especialmente la temperatura y la humedad, pueden afectar significativamente el rendimiento y la confiabilidad de los fusibles de semiconductores. A continuación, se examina con más detalle cómo estos factores influyen en el funcionamiento del fusible:
Coeficiente de temperatura: La mayoría de los elementos de fusible tienen un coeficiente de temperatura positivo, lo que significa que su resistencia aumenta con la temperatura. A medida que la temperatura sube, el elemento del fusible se calienta y su resistencia aumenta, lo que puede llevar a una reducción en la capacidad de corriente. En casos extremos, esto podría causar que el fusible se abra (se funda) bajo condiciones de corriente normal.
Derating: A menudo, los fusibles se deratean para temperaturas ambientales altas. Los fabricantes suelen proporcionar curvas de derating que muestran cómo debe reducirse la clasificación de corriente del fusible en función de la temperatura ambiente. Operar un fusible a una temperatura superior a la que está clasificado puede acortar significativamente su vida útil e incrementar la probabilidad de fallo prematuro.
Resistencia térmica: La exposición a largo plazo a temperaturas elevadas puede degradar los materiales utilizados en el fusible, lo que potencialmente puede llevar a fallos. Esta degradación puede acelerarse por factores como el ciclo térmico, donde el fusible se calienta y se enfría repetidamente.
Corrosión: La alta humedad puede provocar la corrosión de las partes metálicas del fusible, especialmente de las tapas y del propio elemento del fusible. La corrosión puede aumentar la resistencia del elemento del fusible y potencialmente llevar a sobrecalentamiento y fallo.
Ingreso de humedad: Si la humedad penetra en el cuerpo del fusible, puede causar cortocircuitos, especialmente en fusibles que no están herméticamente sellados. Esto puede ser un problema significativo en entornos donde es probable que ocurra condensación.
Deterioro del aislamiento: La humedad también puede deteriorar cualquier material aislante dentro o alrededor del fusible, lo que potencialmente puede llevar a fugas eléctricas o cortocircuitos.
Envejecimiento acelerado: La combinación de alta temperatura y alta humedad puede acelerar el proceso de envejecimiento de los fusibles. Los materiales utilizados en el fusible pueden deteriorarse más rápidamente bajo estas condiciones, reduciendo la vida útil del fusible.
Golpe térmico: Los cambios rápidos de temperatura, especialmente cuando se combinan con la humedad, pueden causar golpes térmicos. Esto puede llevar a estrés físico y daño potencial a la estructura del fusible.
Seleccionar fusibles apropiados: Elija fusibles diseñados para operar en las condiciones ambientales específicas a las que estarán expuestos. Esto puede incluir fusibles con clasificaciones de temperatura más altas o aquellos diseñados para resistir la corrosión y la entrada de humedad.
Protección ambiental: Implemente medidas de control ambiental, como mantener una temperatura y humedad controladas, usar cajas para proteger los fusibles de la exposición directa a condiciones adversas, o emplear recubrimientos conformes para proporcionar protección adicional contra la humedad y los contaminantes.
Mantenimiento e inspección regular: Inspeccione regularmente los fusibles en busca de signos de corrosión, daños u otros deterioros debido a factores ambientales. Reemplace cualquier fusible que muestre signos de daño o que haya estado en servicio más allá de su vida útil recomendada.
Comprendiendo y gestionando el impacto de los factores ambientales, como la temperatura y la humedad, se puede mantener eficazmente la confiabilidad y el rendimiento de los fusibles de semiconductores en diversas aplicaciones.
| Modelo de producto | tamaño | Voltaje nominal V | Corriente nominal A | Capacidad de interrupción nominal kA |
| DNT1-R1J-160 | 1 | CA 1300 | 160 | 100 |
| DNT1-R1J-200 | 200 | |||
| DNT1-R1J-250 | 250 | |||
| DNT1-R1J-315 | 315 | |||
| DNT1-R1J-350 | 350 | |||
| DNT1-R1J-400 | 400 | |||
| DNT1-R1J-450 | 450 | |||
| DNT1-R1J-500 | 500 | |||
| DNT1-R1J-550 | 550 | |||
| DNT2-R1J-350 | 2 | 350 | ||
| DNT2-R1J-400 | 400 | |||
| DNT2-R1J-450 | 450 | |||
| DNT2-R1J-500 | 500 | |||
| DNT2-R1J-550 | 550 | |||
| DNT2-R1J-630 | 630 | |||
| DNT2-R1J-710 | 710 | |||
| DNT2-R1J-800 | 800 | |||
| DNT3-R1J-630 | 3 | 630 | ||
| DNT3-R1J-710 | 710 | |||
| DNT3-R1J-800 | 800 | |||
| DNT3-R1J-900 | 900 | |||
| DNT3-R1J-1000 | 1000 | |||
| DNT3-R1J-1100 | 1100 | |||
| DNT3-R1J-1250 | 1250 |