დიელექტრული კომბინირებული ძაბვის გამოცდა (BIAS გამოცდა) დარჩენითი აპარატებზე
დიელექტრული ბიასის ტესტირება მაღალდახრილოვან შერთვის გამორთველებზე
დიელექტრული ბიასის ტესტირება არის კრიტიკული პროცედურა, რომელიც გამოიყენება მაღალდახრილოვან შერთვის გამორთველების (CB-ები) იზოლაციის პერფორმანსის შეფასებისთვის რეალური დახრილობის სტრესების მიმოხილვის პირობებში. ამ ტესტში შერთვის გამორთველი ექსპონირებულია ორი ცალკე დახრილობის: ელექტროსადგურის სიხშირის (PF) დახრილობასა და შერთვის (SW) იმპულსის ან წარმოების (LI) იმპულსს. ამ დახრილობების კომბინაცია იმიტირებს რეალურ დახრილობებს, რომლებსაც შერთული შერთვის გამორთველი შეიძლება შეხვიდეს მუშაობის დროს.
ტესტის დასაწყისი და პირობები
ელექტროსადგურის სიხშირის (PF) დახრილობა:
გამოყენებული ერთ ტერმინალზე (ტერმინალ A).
SW ბიასის ტესტებისთვის, PF დახრილობა ეკუთვნის სისტემის რეიტინგულ ფაზა-დანაშაულ დახრილობას. ეს არის რეალური პირობების რეფლექსია, როდესაც შერთვის გადახდილი დახრილობები ხშირად ხდება ელექტროსადგურის სიხშირის დახრილობის ტალანტის ახლოს.
LI ბიასის ტესტებისთვის, PF დახრილობა იყენებს რეიტინგული ფაზა-დანაშაულ დახრილობის 70%-ს. ეს იმიტომ რომ წარმოების გადახდილი დახრილობები შეიძლება ხდებოდეს ნებისმიერი დროს, და სტანდარტი არჩევს კომპრომისს უფრო ნაკლები და უფრო სევრული სტრესის პირობებს შორის.
იმპულსის დახრილობა (SW ან LI):
გამოყენებული მეორე ტერმინალზე (ტერმინალ B).
იმპულსის დახრილობა სინქრონიზებულია ელექტროსადგურის სიხშირის დახრილობის საპირისპირო ტალანტთან. ეს ნიშნავს, რომ თუ PF დახრილობა არის მისი უარყოფითი ტალანტზე, იმპულსის დახრილობა გამოყენებული იქნება მისი დადებითი ტალანტზე და პირიქით.
ტერმინალებს შორის სულ დახრილობა არის PF დახრილობის და იმპულსის დახრილობის ჯამი.
სინქრონიზება
SW ბიასის ტესტებისთვის, შერთვის იმპულსი სინქრონიზებულია უარყოფითი PF დახრილობის მაქსიმალურ მნიშვნელობასთან. ეს უზრუნველყოფს, რომ შერთვის გამორთველი ტესტირებული იქნება ყველაზე სევრულ პირობებში, რადგან შერთვის გადახდილი დახრილობები ხშირად ხდება, როდესაც ელექტროსადგურის სიხშირის დახრილობა არის მისი ტალანტის ახლოს.
LI ბიასის ტესტებისთვის, წარმოების იმპულსი ასევე სინქრონიზებულია უარყოფითი PF დახრილობის ტალანტთან, მაგრამ PF დახრილობა დაბალია (რეიტინგული დახრილობის 70%) წარმოების დახრილობების შემთხვევითი ხდება ნებისმიერი დროს.
ტესტის მიზანი
დიელექტრული ბიასის ტესტირების მიზანი არის დარწმუნება, რომ შერთვის გამორთველის იზოლაციის სისტემა შეძლებს ელექტროსადგურის სიხშირის და იმპულსის დახრილობების კომბინირებული ეფექტების გადასატანად, რომელიც ხშირად ხდება რეალური აპლიკაციებში. შერთვის გამორთველის ამ პირობებში გადატანის მეშვეობით წარმომადგენლები შეძლებენ შეამოწმონ, რომ იზოლაცია არ დაინგრებს ყველაზე სევრული დახრილობის სცენარიში.
მაგალითი: ABB მაღალდახრილოვან შერთვის გამორთველი დიელექტრული ბიასის ტესტში
შემდეგ სცენარში, ABB მაღალდახრილოვან შერთვის გამორთველი ტესტირებულია დიელექტრული ბიასის პირობებში:
ტერმინალ A: გამოყენებული არის ელექტროსადგურის სიხშირის (PF) დახრილობა.
ტერმინალ B: გამოყენებული არის შერთვის (SW) ან წარმოების (LI) იმპულსი, სინქრონიზებული უარყოფითი PF დახრილობის მაქსიმალურ მნიშვნელობასთან.
ეს დასაწყისი უზრუნველყოფს, რომ შერთვის გამორთველი ტესტირებული იქნება პირობებში, რომლებიც საკმარისად ჰგავს იმ პირობებს, რომლებსაც ის შეხვდება რეალურ მუშაობაში, რითაც იქნება მიღებული დამახასიათებელი იზოლაციის პერფორმანსი.
სამუშაო პუნქტების შეჯამება
PF დახრილობა: გამოყენებული არის ერთ ტერმინალზე, რომელიც ეკუთვნის რეიტინგულ ფაზა-დანაშაულ დახრილობას SW ბიასის ტესტებისთვის ან რეიტინგული დახრილობის 70%-ს LI ბიასის ტესტებისთვის.
იმპულსის დახრილობა: გამოყენებული არის მეორე ტერმინალზე, სინქრონიზებული ელექტროსადგურის სიხშირის დახრილობის საპირისპირო ტალანტთან.
სულ დახრილობა: PF დახრილობის და იმპულსის დახრილობის ჯამი.
სინქრონიზება: SW ბიასის ტესტებისთვის, იმპულსი სინქრონიზებულია უარყოფითი PF დახრილობის მაქსიმალურ მნიშვნელობასთან; LI ბიასის ტესტებისთვის, იგივე სინქრონიზება გამოიყენება, მაგრამ PF დახრილობა დაბალია (რეიტინგული დახრილობის 70%).
მიზანი: რეალური დახრილობის პირობების იმიტაცია და შერთვის გამორთველის იზოლაციის შესაძლებლობის შესამოწმებლად ელექტროსადგურის სიხშირის და იმპულსის დახრილობების კომბინირებული სტრესების დროს.
