멀티미터로 저항을 측정하기 전에 DC 소스를 분리하는 이유는 무엇입니까

1. 멀티미터 저항 측정 원리 관련 원인

멀티미터 내부 전원 공급 원리

멀티미터로 저항을 측정할 때는 내부 배터리를 사용하여 장치를 구동합니다. 멀티미터는 내부 회로를 통해 측정된 저항과 회로를 형성하고, 오옴의 법칙에 따라 저항 값을 측정합니다. DC 소스가 연결 해제되지 않은 경우 외부 전원 공급이 멀티미터의 내부 회로와 측정된 저항으로 형성된 측정 루프에 간섭하여 정확하지 않은 측정 결과를 초래합니다. 예를 들어 외부 DC 소스는 측정 루프의 전류 크기를 변경하여 멀티미터가 오옴의 법칙에 따라 계산한 저항 값이 실제 값과 차이가 날 수 있습니다.

측정 원리 및 회로 간섭

멀티미터는 내부 회로 구조와 작동 원리에 따라 저항을 측정합니다. 내부 배터리를 통해 알려진 전압을 제공한 후 측정된 저항을 통과하는 전류를 측정하고, 오옴의 법칙(R= V/I)에 따라 저항 값을 계산합니다. 외부 DC 소스가 연결되면 측정된 저항의 전압이나 저항을 통과하는 전류 상황을 변경합니다. 예를 들어 외부 DC 소스의 전압이 멀티미터 내부에서 제공되는 전압에 중첩되어 측정된 전류가 멀티미터만의 전압에 기반하지 않게 되어 저항 값을 정확히 측정할 수 없습니다.

II. 장비 손상 방지 원인

멀티미터 헤드 보호

멀티미터의 헤드는 비교적 정밀한 구성 요소입니다. 저항 측정 중 DC 소스가 연결 해제되지 않은 경우 외부 DC 소스가 큰 전류를 생성할 수 있습니다. 이 전류는 멀티미터 헤드가 견딜 수 있는 범위를 초과할 수 있으며, 이로 인해 헤드가 손상될 수 있습니다. 헤드는 멀티미터가 다양한 전기량(저항 측정 중 내부 회로를 기반으로 한 전류 감지 포함)을 측정하는 핵심 구성 요소입니다. 손상되면 멀티미터는 제대로 작동하지 않으며 수리 또는 교체가 필요합니다.

테스트된 회로의 다른 구성 요소 보호

저항을 측정할 때 DC 소스를 연결 해제하지 않은 상태에서는 멀티미터의 내부 회로 연결 때문에 측정된 회로의 다른 구성 요소가 비정상적인 전압이나 전류를 견뎌야 할 수 있습니다. 이로 인해 일부 전압과 전류에 민감한 구성 요소(예: 특정 반도체 구성 요소)가 손상될 수 있으며, 이는 전체 회로의 정상적인 작동 상태에 영향을 미칠 수 있습니다.