H61 ਵਿੱਤਰਨ ਟ੍ਰਾਂਸਫਾਰਮਰਾਂ ਦੀਆਂ ਪੈਂਚ ਸਾਧਾਰਨ ਕਮੀਆਂ
1. ਲੀਡ ਵਾਇਅਰ ਕਮੀਆਂ
ਖੋਜ ਵਿਧੀ: ਤਿੰਨ ਫੈਜ਼ੀ DC ਰੀਜਿਸਟੈਂਸ ਦੀ ਅਸੰਗਠਨਤਾ ਦਰ ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਹੋ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਜੋ 4% ਤੋਂ ਵੱਧ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਜਾਂ ਇੱਕ ਫੈਜ਼ ਮੁੱਢਲੀ ਤੌਰ 'ਤੇ ਖੁਲਾ ਸਰਕਿਟ ਹੋ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।
ਸੁਧਾਰ ਦੇ ਉਪਾਏ: ਕੋਰ ਉਤਾਰਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ ਤਾਂ ਜੋ ਦੋਖੀ ਖੇਤਰ ਲੱਭਿਆ ਜਾ ਸਕੇ। ਘੱਟ ਸੰਪਰਕ ਲਈ, ਸੰਪਰਕ ਨੂੰ ਫਿਰ ਸੜਾਇਆ ਅਤੇ ਮਜ਼ਬੂਤ ਕੀਤਾ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਘੱਟ ਵੇਲਡ ਸੰਪਰਕਾਂ ਨੂੰ ਫਿਰ ਵੇਲਡ ਕੀਤਾ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਜੇਕਰ ਵੇਲਡਿੰਗ ਸਥਾਨ ਦੀ ਰਕਤਾ ਘਟਦੀ ਹੈ, ਤਾਂ ਇਸਨੂੰ ਵਧਾਇਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਜੇਕਰ ਲੀਡ ਵਾਇਅਰ ਦੀ ਸੈਕਸ਼ਨ ਘੱਟ ਹੈ, ਤਾਂ ਇਸਨੂੰ (ਵੱਧ ਸਾਈਜ਼) ਦੀ ਬਦਲਣ ਦੀ ਆਵਸ਼ਿਕਤਾ ਹੈ ਤਾਂ ਜੋ ਯੋਗਦਾਨ ਪੂਰਾ ਹੋ ਸਕੇ।
2. ਟੈਪ ਚੈੰਜਰ ਕਮੀਆਂ
ਖੋਜ ਵਿਧੀ: ਵਿਭਿਨਨ ਟੈਪ ਸਥਾਨਾਂ 'ਤੇ DC ਰੀਜਿਸਟੈਂਸ ਮਾਪਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਜੇਕਰ ਮੁੱਖ ਸਰਕਿਟ ਹੋ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਤਾਂ ਸਵਿਚ ਸ਼ਾਇਦ ਜਲ ਗਿਆ ਹੈ। ਜੇਕਰ ਕਿਸੇ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਟੈਪ 'ਤੇ DC ਰੀਜਿਸਟੈਂਸ ਦੀ ਅਸੰਗਠਨਤਾ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਤਾਂ ਇੱਕ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਸਂਪਰਕ ਜਲ ਗਿਆ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਜਲਣ ਦਾ ਮਜ਼ਬੂਤ ਸੰਦੇਸ਼ ਗਰਮੀ ਜਾਂ ਆਰਕਿੰਗ ਦਾ ਸੂਚਨਾ ਦਿੰਦਾ ਹੈ।
ਸੁਧਾਰ ਦੇ ਉਪਾਏ: ਕੋਰ ਉਤਾਰਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਜੇਕਰ ਸਵਿਚ ਸਂਪਰਕ ਸਿਰਫ ਹਲਕੀ ਤੌਰ 'ਤੇ ਗਰਮ ਹੋਣ ਜਾਂ ਸਲੱਬ ਸੰਪਰਕ ਜਾਂ ਹਲਕੀ ਆਰਕਿੰਗ ਦੀ ਨਿਸ਼ਾਨੀਆਂ ਹੁੰਦੀਆਂ ਹਨ, ਤਾਂ ਇਹ ਹਟਾਏ ਜਾ ਸਕਦੇ ਹਨ, ਮੈਨੈਂਟੈਨਸ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਫਿਰ ਸੈਟ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਜੇਕਰ ਗਲਤੀਆਂ ਬਹੁਤ ਗਹਿਰੀਆਂ ਹੁੰਦੀਆਂ ਹਨ ਜਾਂ ਸਂਪਰਕ ਵਿਚ ਗਰੰਡ ਦੀ ਦੀਸ਼ਾ ਦੀ ਚਾਰਜ ਦੀ ਗਲਤੀ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਤਾਂ ਸਵਿਚ ਨੂੰ ਬਦਲਣਾ ਹੋਵੇਗਾ। ਗਰੰਡ ਦੀ ਦੀਸ਼ਾ ਦੀ ਚਾਰਜ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਉੱਚ ਵੋਲਟੇਜ ਵਿਂਡਿੰਗ ਦੇ ਟੈਪ ਸਕਸ਼ਨ ਦੀ ਵਿਕਾਰਤਾ ਨੂੰ ਵਧਾਉਂਦੀ ਹੈ; ਬਹੁਤ ਗਹਿਰੀ ਗਲਤੀਆਂ ਵਿੱਚ, ਵਿਂਡਿੰਗ ਨੂੰ ਸੁਧਾਰਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ ਜਾਂ ਫਿਰ ਬਦਲਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ (ਰੈਲੇਇਡ)।
3. ਵਿਂਡਿੰਗ ਕਮੀਆਂ
ਖੋਜ ਵਿਧੀ: ਵਿਂਡਿੰਗ ਦੀਆਂ ਗਲਤੀਆਂ ਸਾਧਾਰਨ ਤੌਰ 'ਤੇ ਕਨਸਰਵੇਟਰ ਟੈਂਕ ਤੋਂ ਤੇਲ ਦਾ ਛੇਡਣਾ, ਟੈਂਕ ਦੇ ਸ਼ਰੀਰ ਦਾ ਫੁਲਾਉਣਾ, ਅਤੇ ਜਲਿਆ ਤੇਲ ਦਾ ਸੰਦੇਸ਼ ਹੁੰਦਾ ਹੈ। ਇਨਸੁਲੇਸ਼ਨ ਰੀਜਿਸਟੈਂਸ ਅਤੇ DC ਰੀਜਿਸਟੈਂਸ ਦੀ ਮਾਪ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕਦੀ ਹੈ - ਇਨਸੁਲੇਸ਼ਨ ਰੀਜਿਸਟੈਂਸ ਨੇਅਰ "ਜ਼ੀਰੋ" ਅਤੇ ਅਸਥਿਰ, ਬਾਧਿਤ DC ਰੀਜਿਸਟੈਂਸ ਵਿਂਡਿੰਗ ਦੀਆਂ ਗਲਤੀਆਂ ਦੀ ਦਿਸ਼ਾ ਦਿੰਦੇ ਹਨ।
ਸੁਧਾਰ ਦੇ ਉਪਾਏ: ਕੋਰ ਉਤਾਰਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ ਤਾਂ ਜੋ ਗਲਤੀ ਦੀ ਹਾਲਤ ਦਾ ਮੁਲਾਂਕਣ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕੇ। ਹਲਕੀ ਨੁਕਸਾਨ ਦੀ ਸੁਧਾਰ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕਦੀ ਹੈ ਤਾਂ ਜੋ ਇਸਨੂੰ ਫਿਰ ਸੈਟ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕੇ। ਗਹਿਰੀ ਗਲਤੀਆਂ ਲਈ ਵਿਂਡਿੰਗ ਦੀ ਬਦਲਣ ਦੀ ਆਵਸ਼ਿਕਤਾ ਹੁੰਦੀ ਹੈ। ਕਨਸਰਵੇਟਰ ਟੈਂਕ ਦੀ ਸੀਲਿੰਗ ਦੀ ਗਲਤੀ ਲਈ, ਤਕਨੀਕੀ ਸੁਧਾਰ ਕੀਤੇ ਜਾਣ ਚਾਹੀਦੇ ਹਨ।
4. ਘਟਿਆ ਇਨਸੁਲੇਸ਼ਨ
ਖੋਜ ਵਿਧੀ: ਟ੍ਰਾਂਸਫਾਰਮਰ 'ਤੇ ਨਿਯਮਿਤ ਇਨਸੁਲੇਸ਼ਨ ਰੀਜਿਸਟੈਂਸ ਟੈਸਟ ਅਤੇ ਤੇਲ ਟੈਸਟ ਕੀਤੇ ਜਾਣ ਚਾਹੀਦੇ ਹਨ। ਮਾਪਿਆ ਗਿਆ ਮੁੱਲ ਦੀ ਬਹੁਤ ਬਦਲਾਅ ਜਾਂ ਰੀਜਲੇਸ਼ਨਜ਼ ਦੀਆਂ ਲਗਾਈਆਂ ਗਈਆਂ ਲੋੜਾਂ ਤੋਂ ਨੀਚੇ ਰੇਜਲਟਸ ਇਨਸੁਲੇਸ਼ਨ ਦੀ ਕਮੀ ਜਾਂ ਤੇਲ ਦੀ ਇਨਸੁਲੇਸ਼ਨ ਸ਼ਕਤੀ ਦੀ ਘਟਿਆ ਦੀ ਦਿਸ਼ਾ ਦਿੰਦੇ ਹਨ।
ਸੁਧਾਰ ਦੇ ਉਪਾਏ: ਜੇਕਰ ਟ੍ਰਾਂਸਫਾਰਮਰ ਦਾ ਇਨਸੁਲੇਸ਼ਨ ਰੀਜਿਸਟੈਂਸ ਘਟ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਤਾਂ ਇਸਨੂੰ ਪੂਰੀ ਤੌਰ 'ਤੇ ਸੁੱਕਾਉਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਜੇਕਰ ਤੇਲ ਦੀ ਇਨਸੁਲੇਸ਼ਨ ਸ਼ਕਤੀ ਘਟ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਤਾਂ ਤੇਲ ਨੂੰ ਬਦਲਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ ਜਾਂ ਫਿਲਟਰ ਕੀਤਾ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਗਲਤ ਸੀਲ ਅਤੇ ਦੋਖੀ ਬ੍ਰੀਥਰਜ਼ (ਡੀਹਾਇਡ੍ਰੇਟਿੰਗ ਬ੍ਰੀਥਰਜ਼) ਸੁਧਾਰੇ ਜਾਣ ਚਾਹੀਦੇ ਹਨ।
5. ਕੋਰ ਕਮੀਆਂ
ਖੋਜ ਵਿਧੀ: ਕੋਰ-ਥ੍ਰੂ ਬੋਲਟਾਂ ਦਾ ਇਨਸੁਲੇਸ਼ਨ ਰੀਜਿਸਟੈਂਸ ਮਾਪਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਜੇਕਰ ਇਹ 10 MΩ ਤੋਂ ਘੱਟ ਹੈ, ਤਾਂ ਸੁਧਾਰ ਦੀ ਆਵਸ਼ਿਕਤਾ ਹੈ।
ਸੁਧਾਰ ਦੇ ਉਪਾਏ: ਕੋਰ ਉਤਾਰਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ, ਫਿਰ ਦੋਖੀ ਕੋਰ-ਥ੍ਰੂ ਬੋਲਟ ਨੂੰ ਹਟਾਇਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਇਸਦੀ ਇਨਸੁਲੇਸ਼ਨ ਬਦਲ ਦਿੱਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ।