Módulo mono-facial de 610-635 Watt com menor LID/LeTID

Certificação

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: Sistema de Gestão da Qualidade ·

•  ISO14001:2015: Sistema de Gestão Ambiental ·

•  ISO45001:2018: Sistemas de gestão de saúde e segurança no trabalho.

Características

• Módulos N com tecnologia Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) oferecem menor degradação LID/LeTID e melhor desempenho em baixa luminosidade.

• Módulos N com a tecnologia HOT 3.0 da Solar oferecem maior confiabilidade e eficiência.

• Alta resistência à névoa salina e amoníaco.

• Certificados para suportar: carga estática máxima frontal de 5400 Pa, carga estática máxima traseira de 2400 Pa.

• Melhor captura de luz e coleta de corrente para aumentar a potência e a confiabilidade do módulo.

• Minimiza a probabilidade de degradação causada por fenômenos PID através da otimização da tecnologia de produção de células e controle de materiais.

Características Mecânicas

Configuração de Embalagem

Especificações (STC)

Condições de Aplicação

Desenhos de Engenharia

*Nota: Para dimensões específicas e margens de tolerância, consulte os desenhos detalhados do módulo correspondente.

Desempenho Elétrico & Dependência de Temperatura

O que é o fenômeno LID/LeTID?

LID (Degradation Induzida pela Luz) e LeTID (Degradation Induzida por Luz e Temperatura Elevada) são dois fenômenos que afetam o desempenho das células solares. Especialmente em módulos de alta potência, essas questões são particularmente importantes. A seguir, uma explicação sobre os fenômenos LID e LeTID e seu impacto em módulos monofaciais de 610-635 watts.

• LID: LID refere-se ao fenômeno de degradação do desempenho que ocorre quando as células solares são expostas à luz solar pela primeira vez. Este fenômeno é principalmente devido à formação de complexos boro-oxigênio no material da célula (geralmente silício monocristalino tipo p) sob iluminação, resultando em uma redução na eficiência da célula.

• LeTID: LeTID é outro fenômeno de degradação do desempenho. Ocorre quando a célula opera em condições de alta temperatura (por exemplo, acima de 70 °C) e iluminação. A degradação do desempenho causada pelo LeTID é mais grave do que a do LID, e a velocidade de recuperação é mais lenta.