৬১০-৬৩৫ ওয়াট একমুখী মডিউল কম LID/LeTID

প্রমাণিত

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: গুণগত ব্যবস্থাপনা সিস্টেম ·

•  ISO14001:2015: পরিবেশ ব্যবস্থাপনা সিস্টেম ·

•  ISO45001:2018: কর্মস্থলের স্বাস্থ্য ও নিরাপত্তা ব্যবস্থাপনা সিস্টেম।

বৈশিষ্ট্য

• টানেল অক্সাইড পাসিভেটিং কন্টাক্ট (TOPcon) প্রযুক্তি সহ N-টাইপ মডিউল কম LID/LeTID হ্রাস এবং বেশি কম আলোতে বিশেষ পারফরম্যান্স প্রদান করে।

• সোলারের HOT 3.0 প্রযুক্তি সহ N-টাইপ মডিউল বেশি নিরাপত্তা এবং দক্ষতা প্রদান করে।

• উচ্চ লবণ ধূম এবং অ্যামোনিয়া প্রতিরোধক্ষমতা।

• প্রত্যয়িত: 5400 Pa ফ্রন্ট সাইড ম্যাক্স স্ট্যাটিক টেস্ট লোড 2400 Pa রিয়ার সাইড ম্যাক্স স্ট্যাটিক টেস্ট লোড।

• আলো ট্র্যাপিং এবং বর্তনী সংগ্রহের উন্নতি করে মডিউল পাওয়ার আউটপুট এবং নিরাপত্তা বাড়ানো।

• PID ঘটনা দ্বারা হ্রাসের সম্ভাবনা কমানো কোষ উৎপাদন প্রযুক্তি এবং উপাদান নিয়ন্ত্রণের অপটিমাইজেশন দ্বারা।

যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্য

প্যাকেজিং কনফিগারেশন

স্পেসিফিকেশন (STC)

অ্যাপ্লিকেশন শর্তাবলী

ইঞ্জিনিয়ারিং ড্রাইংস

*নোট: নির্দিষ্ট মাত্রা এবং সহিষ্ণুতা পরিসরের জন্য, দয়া করে সংশ্লিষ্ট বিস্তারিত মডিউল ড্রাইংস দেখুন।

ইলেকট্রিক্যাল পারফরম্যান্স এবং তাপমাত্রা নির্ভরতা

LID/LeTID ঘটনা কী?

LID (Light Induced Degradation) এবং LeTID (Light and Elevated Temperature Induced Degradation) দুইটি ঘটনা যা সৌর কোষের পারফরম্যান্সকে প্রভাবিত করে। বিশেষ করে উচ্চ-পাওয়ার আউটপুট মডিউলগুলিতে, এই সমস্যাগুলি বিশেষ গুরুত্বপূর্ণ। নিম্নে LID এবং LeTID ঘটনাগুলি এবং তাদের 610-635 ওয়াট একক-পাশের মডিউলে প্রভাবের ব্যাখ্যা দেওয়া হল:

• LID: LID হল সৌর কোষ প্রথমবারের মতো আলোতে প্রকাশিত হলে পারফরম্যান্সের হ্রাসের ঘটনা। এই ঘটনার মূল কারণ হল আলোর প্রভাবে ব্যাটারি উপাদান (সাধারণত p-টাইপ মনোক্রিস্টালিন সিলিকন) এর মধ্যে বোরন-অক্সিজেন কমপ্লেক্সের গঠন, যা ব্যাটারির দক্ষতা হ্রাস করে।

• LeTID: LeTID হল আরেকটি পারফরম্যান্সের হ্রাসের ঘটনা। এটি ব্যাটারি উচ্চ তাপমাত্রা (উদাহরণস্বরূপ, 70 °C এর উপর) এবং আলোর প্রভাবে পরিচালিত হলে ঘটে। LeTID দ্বারা পারফরম্যান্সের হ্রাস LID এর তুলনায় বেশি গুরুতর এবং পুনরুদ্ধারের গতি ধীর।