610-635 وات مدول يک سویه با LID/LeTID کمتر

Сертификация

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: Система управления качеством ·

•  ISO14001:2015: Система экологического менеджмента ·

•  ISO45001:2018: Системы управления охраной труда и безопасностью.

Особенности

• Модули типа N с технологией TOPcon (Tunnel Oxide Passivating Contacts) обеспечивают меньшее снижение характеристик LID/LeTID и лучшую производительность при низком освещении.

• Модули типа N с технологией HOT 3.0 от Solar обеспечивают лучшую надежность и эффективность.

• Высокая устойчивость к солевому туману и аммиаку.

• Сертифицированы для выдерживания: 5400 Па максимальная статическая нагрузка на переднюю сторону, 2400 Па максимальная статическая нагрузка на заднюю сторону.

• Лучшее поглощение света и сбор тока для повышения выходной мощности и надежности модуля.

• Минимизация вероятности деградации, вызванной явлением PID, за счет оптимизации технологии производства элементов и контроля материалов.

Механические характеристики

Конфигурация упаковки

Технические характеристики (STC)

Условия применения

Инженерные чертежи

*Примечание: Для получения конкретных размеров и допусков, пожалуйста, обратитесь к соответствующим подробным чертежам модулей.

Электрические характеристики и зависимость от температуры

Что такое явление LID/LeTID?

LID (Light Induced Degradation) и LeTID (Light and Elevated Temperature Induced Degradation) — это два явления, которые влияют на производительность солнечных элементов. Особенно в модулях с высокой выходной мощностью эти вопросы особенно важны. Ниже приведено объяснение явлений LID и LeTID и их влияния на односторонние модули мощностью 610-635 Вт.

• LID: LID — это явление снижения производительности, которое происходит, когда солнечные элементы впервые подвергаются воздействию солнечного света. Это явление в основном связано с образованием боро-кислородных комплексов в материале элемента (обычно монокристаллический кремний p-типа) под воздействием освещения, что приводит к снижению эффективности элемента.

• LeTID: LeTID — это другое явление снижения производительности. Оно возникает, когда элемент работает при высоких температурах (например, выше 70 °C) и при освещении. Снижение производительности, вызванное LeTID, более серьезное, чем LID, и восстановление происходит медленнее.