610-635 Watt yksipuolinen moduuli alhaisempi LID/LeTID

Sertifiointi

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: Laatujärjestelmä ·

•  ISO14001:2015: Ympäristöjärjestelmä ·

•  ISO45001:2018: Työterveys- ja työturvallisuusjärjestelmä.

Ominaisuudet

• N-tyypin moduulit Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) -tekniikalla tarjoavat pienemmän LID/LeTID-pilaantumisen ja paremman heikon valon suorituskyvyn.

• N-tyypin moduulit Solarin HOT 3.0 -tekniikalla tarjoavat paremman luotettavuuden ja tehokkuuden.

• Korkea suolahuuravastus ja ammiaviha.

• Sertifioitu kestämään: 5400 Pa etupuolen maksimistatiikki testilata 2400 Pa takapuolen maksimistatiikki testilata.

• Parempi valon kiinnittäminen ja virtasuurennus parantamaan moduulin teho-ulkosuuntaa ja luotettavuutta.

• Minimoitaa PID-ilmiön aiheuttaman pilaantumisen soluteknologian optimoinnin ja materiaalivalvonnan kautta.

Mekaaniset ominaisuudet

Pakkauskonfiguraatio

Määrittelyt (STC)

Sovellusehdot

Inkvisitukset

*Huom: Tarkkoja mittoja ja sallittuja poikkeamia varten tarkista vastaavat yksityiskohtaiset moduulikuvaajat.

Sähköinen suorituskyky & lämpötilariippuvuus

Mikä on LID/LeTID-ilmiö?

LID (valoindusoitu pilaantuminen) ja LeTID (valo- ja korkean lämpötilan indusoitu pilaantuminen) ovat kaksi ilmiötä, jotka vaikuttavat aurinkopaneelien suorituskykyyn. Erityisesti suurehkon tehon moduuleissa nämä ongelmat ovat erityisen tärkeitä. Alla on selitys LID- ja LeTID-ilmiöistä ja niiden vaikutuksesta 610-635 wattisiin yksipuolisille moduuleille.

• LID: LID viittaa suorituskyvyn pilaantumiseen, joka tapahtuu, kun aurinkopaneeli asetetaan ensimmäistä kertaa päivävalolle. Tämä ilmiö johtuu pohjuste-bor-happo-yhdisteiden muodostumisesta bateriaaineksi (yleensä p-tyyppinen monokristallinen silikaatti) valoisessa olosuhteessa, mikä vähentää baterian tehokkuutta.

• LeTID: LeTID on toinen suorituskyvyn pilaantumisen ilmiö. Se tapahtuu, kun bateria toimii korkeassa lämpötilassa (esimerkiksi yli 70 °C) ja valoisissa olosuhteissa. LeTID:n aiheuttama suorituskyvyn pilaantuminen on vakavampaa kuin LID:n, ja palautumisnopeus on hitaampi.