610-635 Vati monopinnaelement vähem LID/LeTID

Sertifitseerimine

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: Kvaliteedijuhtimissüsteem ·

•  ISO14001:2015: Keskkonnajuhtimissüsteem ·

•  ISO45001:2018: Tööohutuse ja tervise juhtimissüsteem.

Omadused

• N-tüübi moodulid Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) tehnoloogiaga pakuvad väiksemat LID/LeTID degradatsiooni ja paremat madala valguse tõusu.

• N-tüübi moodulid Solari HOT 3.0 tehnoloogiaga pakuvad paremat usaldusväärsust ja efektiivsust.

• Kõrge soolaukaste ja amoonia vastupidavus.

• Sertifitseeritud kandmiseks: 5400 Pa eespool maksimaalne staatiline testlaast 2400 Pa tagapool maksimaalne staatiline testlaast.

• Parema valguse sidumine ja voolu korraldamine, et parandada mooduli võimsust ja usaldusväärsust.

• Minimeerib PID fenomeni poolt põhjustatud degradatsioonivaateid elementide tootmise tehnoloogia ja materjali kontrolli optimeerimise kaudu.

Mehaanilised omadused

Paigutuse konfiguratsioon

Spetsifikatsioonid (STC)

Rakendus tingimused

Insenerijoonised

*Märkus: Kindlate mõõtude ja tolerantsiruumide kohta viidatakse vastavatele üksikasjalikele mooduljoonistele.

Elektriline töötingimus & temperatuuri sõltuvus

Mis on LID/LeTID fenomen?

LID (Light Induced Degradation) ja LeTID (Light and Elevated Temperature Induced Degradation) on kaks fenomeni, mis mõjutavad päikeseelementide tööd. Eriti suure võimsusega moodulites on need küsimused eriti olulised. Järgmisel on LID ja LeTID fenomenide selgitus ja nende mõju 610-635 wattide ühepoolsetele moodulitele.

• LID: LID viitab päikeseelementide töödeterioratsioonile, mis esmakordselt ilmub, kui need on välja seatud päikesevalgusele. See fenomen on peamiselt seotud bor-vee komplekside tekkega elemendi materjalis (tavaliselt p-tüübilises ühekristallilises silikoonis) valguse all, mis viib elemendi efektiivsuse languse.

• LeTID: LeTID on teine töödeterioratsioonifenomen, mis esineb, kui element töötab kõrge temperatuuri (nt üle 70 °C) ja valguse all. LeTID poolt põhjustatud töödeterioratsioon on tõsisem kui LID, ja taastumiskiirus on aeglane.