610-635 Watt mono-faciale module met lagere LID/LeTID

Certificering

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: Kwaliteitsmanagementsysteem ·

•  ISO14001:2015: Milieumanagementsysteem ·

•  ISO45001:2018: Arbo-managementsystemen.

Kenmerken

• N-type modules met Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) technologie bieden lagere LID/LeTID-degradatie en betere prestaties bij weinig licht.

• N-type modules met Solar's HOT 3.0 technologie bieden betere betrouwbaarheid en efficiëntie.

• Hoge bestendigheid tegen zoutnevel en ammoniak.

• Gecertificeerd om te weerstaan: 5400 Pa maximale statische belasting aan de voorkant, 2400 Pa maximale statische belasting aan de achterkant.

• Beter lichtvanger en stroomopbrengst om de vermogensuitvoer en betrouwbaarheid van de module te verbeteren.

• Minimaliseert de kans op degradatie veroorzaakt door PID-fenomenen door optimalisatie van celproductietechnologie en materiaalcontrole.

Mechanische Eigenschappen

Verpakking Configuratie

Specificaties (STC)

Toepassingsvoorwaarden

Engineering Tekeningen

*Opmerking: Voor specifieke afmetingen en tolerantieranges, raadpleeg alstublieft de overeenkomstige gedetailleerde moduletekeningen.

Elektrische Prestaties & Temperatuurafhankelijkheid

Wat is het LID/LeTID fenomeen?

LID (Light Induced Degradation) en LeTID (Light and Elevated Temperature Induced Degradation) zijn twee fenomenen die de prestaties van zonnecellen beïnvloeden. Vooral in hoogvermogense modules zijn deze problemen bijzonder belangrijk. Hieronder volgt een uitleg van de LID en LeTID fenomenen en hun impact op 610-635 watt enkelzijdige modules.

• LID: LID verwijst naar het prestatiedegraderingsfenomeen dat optreedt wanneer zonnecellen voor het eerst worden blootgesteld aan zonlicht. Dit fenomeen is voornamelijk te wijten aan de vorming van boor-stikstofcomplexen in het batteriemateriaal (meestal p-type monokristallijn silicium) onder verlichting, wat leidt tot een afname van de efficiëntie van de cel.

• LeTID: LeTID is een ander prestatiedegraderingsfenomeen. Het treedt op wanneer de cel werkt onder hoge temperatuur (bijvoorbeeld boven 70 °C) en verlichting. De prestatiedegradering veroorzaakt door LeTID is ernstiger dan die van LID en de herstelsnelheid is trager.