Modul mono-facial 610-635 Watt dengan LID/LeTID yang lebih rendah

Pengesahan

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: Sistem Pengurusan Kualiti ·

•  ISO14001:2015: Sistem Pengurusan Alam Sekitar ·

•  ISO45001:2018: Sistem pengurusan keselamatan dan kesihatan pekerjaan.

Ciri-ciri

• Modul jenis N dengan teknologi Hubungan Penapisan Terowong Oksida (TOPcon) menawarkan penurunan degradasi LID/LeTID yang lebih rendah dan prestasi cahaya lemah yang lebih baik.

• Modul jenis N dengan teknologi HOT 3.0 Solar menawarkan kebolehpercayaan dan kecekapan yang lebih baik.

• Ketahanan terhadap kabus garam dan amonia yang tinggi.

• Disahkan untuk menanggung: beban ujian statik maksimum sisi hadapan 5400 Pa, beban ujian statik maksimum sisi belakang 2400 Pa.

• Perangkap cahaya dan pengumpulan arus yang lebih baik untuk meningkatkan output kuasa modul dan kebolehpercayaan.

• Mengurangkan peluang degradasi yang disebabkan oleh fenomena PID melalui pengoptimuman teknologi produksi sel dan kawalan bahan.

Ciri-ciri Mekanikal

Konfigurasi Pakej

Spesifikasi (STC)

Syarat-syarat Aplikasi

Gambaran Kejuruteraan

*Nota: Untuk dimensi spesifik dan julat toleransi, sila merujuk kepada gambaran modul terperinci yang berkaitan.

Prestasi Elektrik & Ketergantungan Suhu

Apakah fenomena LID/LeTID?

LID (Degradasi Induced Cahaya) dan LeTID (Degradasi Induced Cahaya dan Suhu Tinggi) adalah dua fenomena yang mempengaruhi prestasi sel suria. Terutamanya dalam modul keluaran kuasa tinggi, isu-isu ini sangat penting. Berikut adalah penjelasan tentang fenomena LID dan LeTID serta kesannya terhadap modul satu sisi 610-635 watt.

• LID：LID merujuk kepada fenomena penurunan prestasi yang berlaku apabila sel suria terdedah kepada cahaya matahari untuk pertama kali. Fenomena ini terutamanya disebabkan oleh pembentukan kompleks boron-oxygen dalam bahan sel (biasanya silikon monokristal p-type), yang mengakibatkan penurunan kecekapan sel.

• LeTID：LeTID adalah fenomena penurunan prestasi lain. Ia berlaku apabila sel beroperasi di bawah suhu tinggi (contohnya, di atas 70 °C) dan keadaan pencahayaan. Penurunan prestasi yang disebabkan oleh LeTID lebih serius daripada LID, dan laju pemulihan lebih perlahan.