Module monofacial de 610 à 635 watts avec faible LID/LeTID

Certification

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: Système de management de la qualité ·

•  ISO14001:2015: Système de management environnemental ·

•  ISO45001:2018: Systèmes de gestion de la santé et de la sécurité au travail.

Caractéristiques

• Les modules de type N avec la technologie Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) offrent une dégradation LID/LeTID plus faible et une meilleure performance en basse lumière.

• Les modules de type N avec la technologie HOT 3.0 de Solar offrent une meilleure fiabilité et efficacité.

• Haute résistance à la brume salée et à l'ammoniac.

• Certifiés pour résister à : 5400 Pa de charge statique maximale sur le côté avant et 2400 Pa de charge statique maximale sur le côté arrière.

• Meilleure capture de lumière et collecte de courant pour améliorer la puissance et la fiabilité du module.

• Minimise les risques de dégradation causés par les phénomènes PID grâce à l'optimisation de la technologie de production des cellules et au contrôle des matériaux.

Caractéristiques mécaniques

Configuration d'emballage

Spécifications (STC)

Conditions d'application

Dessins d'ingénierie

*Note : Pour les dimensions spécifiques et les tolérances, veuillez vous référer aux dessins détaillés des modules correspondants.

Performance électrique & dépendance à la température

Qu'est-ce que le phénomène LID/LeTID ?

LID (Light Induced Degradation) et LeTID (Light and Elevated Temperature Induced Degradation) sont deux phénomènes qui affectent la performance des cellules solaires. En particulier dans les modules à haute puissance, ces problèmes sont particulièrement importants. Voici une explication des phénomènes LID et LeTID et de leur impact sur les modules monofaces de 610-635 watts.

• LID : Le LID fait référence au phénomène de dégradation de la performance qui se produit lorsque les cellules solaires sont exposées à la lumière du soleil pour la première fois. Ce phénomène est principalement dû à la formation de complexes bore-oxygène dans le matériau de la cellule (généralement du silicium monocristallin de type p) sous l'éclairage, entraînant une réduction de l'efficacité de la cellule.

• LeTID : Le LeTID est un autre phénomène de dégradation de la performance. Il se produit lorsque la cellule fonctionne à haute température (par exemple, supérieure à 70 °C) et sous éclairage. La dégradation de la performance due au LeTID est plus grave que celle du LID, et la vitesse de récupération est plus lente.