610-635 Watt mono-facial na modulyo na may mas mababang LID/LeTID

Sertipiko

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: Sistema ng Pamamahala sa Kalidad ·

•  ISO14001:2015: Sistema ng Pamamahala sa Kapaligiran ·

•  ISO45001:2018: Mga sistema ng pamamahala sa kalusugan at kaligtasan sa trabaho.

Mga Tampok

• Ang mga modulyo ng N-type na may teknolohiya ng Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) ay nagbibigay ng mas mababang LID/LeTID degradation at mas mahusay na performance sa mababang liwanag.

• Ang mga modulyo ng N-type na may teknolohiya ng Solar's HOT 3.0 ay nagbibigay ng mas mahusay na reliabilidad at epektividad.

• Matatag laban sa mataas na asin at ammonia.

• Nasertipikong makakaya ang: 5400 Pa front side max static test load 2400 Pa rear side max static test load.

• Mas mahusay na light trapping at current collection upang mapabuti ang output power at reliabilidad ng modulyo.

• Minimize ang pagkakataon ng degradation dahil sa PID phenomena sa pamamagitan ng pag-optimize ng teknolohiya ng produksyon ng cell at kontrol ng materyales.

Mekanikal na Katangian

Pagsasama ng Packaging

Mga Spekipikasyon (STC)

Mga Kondisyon ng Paggamit

Mga Engineering Drawings

*Pansin: Para sa tiyak na sukat at saklaw ng tolerance, mangyaring tumingin sa kasaganaang detalyadong drawing ng modulyo.

Electrical Performance & Temperature Dependence

Ano ang LID/LeTID phenomenon?

LID (Light Induced Degradation) at LeTID (Light and Elevated Temperature Induced Degradation) ay dalawang phenomena na nakakaapekto sa performance ng solar cells. Lalo na sa mga modulyo ng mataas na output, ang mga isyu na ito ay partikular na mahalaga. Ang sumusunod ay isang paliwanag tungkol sa LID at LeTID phenomena at ang kanilang epekto sa 610-635 watt single-sided modules.

• LID：Ang LID ay tumutukoy sa degradation phenomenon na nangyayari kapag unang inilabas ang solar cells sa ilaw ng araw. Ang phenomenon na ito ay pangunahing dahil sa pagkakabuo ng boron-oxygen complexes sa materyal ng battery (karaniwang p-type monocrystalline silicon) sa ilalim ng ilaw, na nagresulta sa pagbawas ng epektibidad ng battery.

• LeTID：Ang LeTID ay isa pa sa mga degradation phenomenon. Nangyayari ito kapag ang battery ay gumagana sa mataas na temperatura (halimbawa, higit sa 70 °C) at ilaw. Ang degradation na dulot ng LeTID ay mas seryoso kaysa sa LID, at mas mabagal ang pagbalik ng epektibidad.