| Mærke | Wone |
| Modelnummer | 610-635 Watt ensidet modul med lavere LID/LeTID |
| Maksimal effekt | 610Wp |
| Serier | 66HL4M-(V) |
Certifikation
IEC61215:2021 / IEC61730:2023 ·
IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·
ISO9001:2015: Kvalitetsledelsessystem ·
ISO14001:2015: Miljøledelsessystem ·
ISO45001:2018: Arbejdsmiljøledelsessystem.
Egenskaber
N-type moduler med Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) teknologi tilbyder lavere LID/LeTID-nedbrydning og bedre ydeevne i svagt lys.
N-type moduler med Solar's HOT 3.0 teknologi tilbyder bedre pålidelighed og effektivitet.
Høj saltånd og ammoniakbestandighed.
Certificeret til at tåle: 5400 Pa frontside maksimal statisk testbelastning, 2400 Pa bagside maksimal statisk testbelastning.
Bedre lysfangst og strømindsamling for at forbedre moduleffekten og pålideligheden.
Minimerer risikoen for nedbrydning som følge af PID-fænomen ved optimering af celleproduktionsteknologi og materialekontrol.

Mekaniske egenskaber

Emballagekonfiguration

Specifikationer (STC)

Anvendelsesbetingelser

Tekniske tegninger


*Bemærk: For specifikke dimensioner og tolerancemargener, se de korrespondende detaljerede modultegninger.
Elektrisk ydeevne & temperaturafhængighed


Hvad er LID/LeTID-fænomenet?
LID (lysinduceret nedbrydning) og LeTID (lys- og højt temperaturinduceret nedbrydning) er to fænomener, der påvirker solcellemodulers ydeevne. Især i højeffektmoduler er disse problemer særdeles vigtige. Nedenfor er en forklaring af LID- og LeTID-fænomenene og deres indflydelse på ensidige 610-635 watt-moduler.
LID: LID refererer til ydeevnenedbrydningen, der opstår, når solceller udsættes for sollys for første gang. Dette fænomen skyldes primært dannelse af boron-oxygenkomplekser i cellermaterialet (normalt p-type monokrystallinsk silicium) under belyst, hvilket fører til en reduktion i cellens effektivitet.
LeTID: LeTID er et andet ydeevnenedbrydningsfænomen. Det opstår, når cellen fungerer under høje temperaturer (fx over 70 °C) og belyste betingelser. Ydeevnenedbrydningen, der er forårsaget af LeTID, er alvorligere end LID, og genoprettelsen er langsommere.