Os dispositivos semicondutores no estado ligado não são interruptores ideais de resistência zero; eles possuem uma resistência no estado ligado. O fluxo de corrente gera calor de acordo com a lei de Joule (P = I²R). Durante a interrupção de correntes elevadas, a dissipação de potência instantânea é substancial, causando picos rápidos de temperatura no dispositivo. Se o projeto térmico for inadequado, o choque térmico repetido induz microfissuras no chip semicondutor, levando à falha eventual.