Los dispositivos semiconductores en estado de conducción no son interruptores ideales de resistencia cero; poseen una resistencia en estado de conducción. El flujo de corriente genera calor según la ley de Joule (P = I²R). Durante la interrupción de corrientes elevadas, la disipación de potencia instantánea es considerable, lo que provoca rápidos aumentos de temperatura en el dispositivo. Si el diseño térmico es inadecuado, el choque térmico repetido induce microfisuras en el chip semiconductor, lo que conduce a un fallo eventual.