610-635 Watt enkelriktad modul med lägre LID/LeTID

Certifiering

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: Kvalitetsledningssystem ·

•  ISO14001:2015: Miljöledningssystem ·

•  ISO45001:2018: Arbetsskydd och hälsohanteringssystem.

Funktioner

• N-typ moduler med Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) teknik erbjuder lägre LID/LeTID-degradering och bättre prestanda vid svagt ljus.

• N-typ moduler med Solars HOT 3.0 teknik erbjuder bättre tillförlitlighet och effektivitet.

• Hög resistens mot saltnebel och ammoniak.

• Certifierad för att klara: 5400 Pa maximal statisk testbelastning på framsidan 2400 Pa maximal statisk testbelastning på baksidan.

• Bättre ljefångst och strömsamling för att förbättra modulens effektleverans och tillförlitlighet.

• Minimerar risken för degradering orsakad av PID-fenomen genom optimering av cellproduktionsteknik och materialkontroll.

Mekaniska egenskaper

Förpackningskonfiguration

Specifikationer (STC)

Användningsvillkor

Konstruktionsritningar

*Notera: För specifika dimensioner och toleransintervall, vänligen se motsvarande detaljerade modulritningar.

Elektrisk prestanda & temperaturberoende

Vad är LID/LeTID-fenomenet?

LID (Light Induced Degradation) och LeTID (Light and Elevated Temperature Induced Degradation) är två fenomen som påverkar solcellsprestanda. Särskilt i högeffektmoduler är dessa problem särskilt viktiga. Nedan följer en förklaring av LID och LeTID-fenomenen och deras inverkan på ensidiga moduler med 610-635 watt.

• LID: LID refererar till prestandaförsämringen som uppstår när solceller utsätts för solljus för första gången. Detta fenomen beror huvudsakligen på bildandet av boron-oxiderkomplex i batterimaterial (vanligtvis p-typ monokristallin silicium) under belyst, vilket leder till en minskning av batteriets effektivitet.

• LeTID: LeTID är ett annat prestandaförsämringfenomen. Det uppstår när batteriet fungerar under hög temperatur (till exempel över 70 °C) och belyst. Prestandaförsämringen orsakad av LeTID är allvarligare än den orsakade av LID, och återhämtningshastigheten är långsammare.