| Brand | Wone |
| Numero sa Modelo | 610-635 Watt mono-facial module mas mababa ang LID/LeTID |
| Pinakadakong Kapangyarihan | 635Wp |
| Serye | 66HL4M-(V) |
Certipikasyon
IEC61215:2021 / IEC61730:2023 ·
IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·
ISO9001:2015: Sistema sa Paghahandle sa Kalidad ·
ISO14001:2015: Sistema sa Paghahandle sa Kalikasan ·
ISO45001:2018: Sistema sa Paghahandle sa Kalusugan at Kaligtasan sa Trabaho.
Pangunahing Katangian
Ang mga N-type modules na may teknolohiya ng Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) ay nagbibigay ng mas mababang LID/LeTID degradation at mas mahusay na performance sa mababang liwanag.
Ang mga N-type modules na may teknolohiya ng Solar's HOT 3.0 ay nagbibigay ng mas mahusay na reliabilidad at epektividad.
Mas mataas na resistensya sa asin at ammonia.
Sertipikado upang makatayo: 5400 Pa front side max static test load 2400 Pa rear side max static test load.
Mas mahusay na pagkuha ng liwanag at koleksyon ng kuryente upang mapabuti ang output power at reliabilidad ng module.
Minimizes ang posibilidad ng degradation dahil sa PID phenomena sa pamamagitan ng pag-optimize ng teknolohiya ng produksyon ng cell at kontrol ng materyales.
Mekanikal na Katangian
Pakete ng Konfigurasyon
Spekifikasyon (STC)
Kondisyon sa Paggamit
Engineering Drawings
*Note: Para sa espesipikong dimensyon at tolerance ranges, mangyaring tumingin sa kasaganaang detalyadong module drawings.
Electrical Performance & Temperature Dependence
Ano ang LID/LeTID phenomenon?
LID (Light Induced Degradation) at LeTID (Light and Elevated Temperature Induced Degradation) ay dalawang phenomena na nakakaapekto sa performance ng solar cells. Lalo na sa high-power output modules, ang mga isyu na ito ay partikular na mahalaga. Ang sumusunod ay isang paliwanag ng LID at LeTID phenomena at ang kanilang epekto sa 610-635 watt single-sided modules.
LID：LID refers to the performance degradation phenomenon that occurs when solar cells are exposed to sunlight for the first time. This phenomenon is mainly due to the formation of boron-oxygen complexes in the battery material (usually p-type monocrystalline silicon) under illumination, resulting in a reduction in the efficiency of the battery.
LeTID：LeTID is another performance degradation phenomenon. It occurs when the battery operates under high temperature (for example, above 70 °C) and illumination conditions. The performance degradation caused by LeTID is more serious than that of LID, and the recovery speed is slower.
