| برند | Wone |
| شماره مدل | مدول یکوجهی ۶۱۰-۶۳۵ وات با LID/LeTID پایین |
| توان مکسیمم | 635Wp |
| سری | 66HL4M-(V) |
گواهینامه
IEC61215:2021 / IEC61730:2023 ·
IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·
ISO9001:2015: سیستم مدیریت کیفیت ·
ISO14001:2015: سیستم مدیریت محیط زیست ·
ISO45001:2018: سیستمهای مدیریت بهداشت و ایمنی شغلی.
ویژگیها
ماژولهای N-نوع با فناوری Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) ارائهدهنده تخریب LID/LeTID کمتر و عملکرد بهتر در نور ضعیف هستند.
ماژولهای N-نوع با فناوری HOT 3.0 سولار ارائهدهنده قابلیت اطمینان و کارایی بهتر هستند.
مقاومت بالا در برابر آب شور و آمونیاک.
گواهی برای تحمل: بار استاتیکی ماکسیمم 5400 Pa در سمت جلو و 2400 Pa در سمت عقب.
بهبود در گرفتن نور و جمعآوری جریان برای بهبود خروجی قدرت و قابلیت اطمینان ماژول.
کاهش احتمال تخریب ناشی از پدیده PID از طریق بهینهسازی فناوری تولید سلولها و کنترل مواد.
ویژگیهای مکانیکی
پیکربندی بستهبندی
مشخصات (STC)
شرایط کاربرد
طرحهای مهندسی
*توجه: برای ابعاد و دامنههای تحمل خاص، لطفاً به رسمهای مربوط به ماژول مراجعه کنید.
عملکرد الکتریکی و وابستگی به دما
پدیده LID/LeTID چیست؟
LID (تخریب ناشی از نور) و LeTID (تخریب ناشی از نور و دما بالا) دو پدیده هستند که عملکرد سلولهای خورشیدی را تحت تاثیر قرار میدهند. به ویژه در ماژولهای با خروجی قدرت بالا، این مسائل بسیار مهم هستند. در ادامه توضیحی درباره پدیدههای LID و LeTID و تاثیر آنها روی ماژولهای تکسویه 610-635 وات آورده شده است.
LID: LID به پدیده تخریب عملکرد اشاره دارد که زمانی رخ میدهد که سلولهای خورشیدی برای اولین بار به نور خورشید مواجه میشوند. این پدیده عمدتاً به دلیل تشکیل کامپلکسهای بور-اکسیژن در ماده سلول (معمولاً سیلیکون تکبلور p-نوع) در زمان روشن بودن، منجر به کاهش کارایی سلول میشود.
LeTID: LeTID یک پدیده تخریب عملکرد دیگر است. این پدیده زمانی رخ میدهد که سلول در دمای بالا (به عنوان مثال، بالاتر از 70 درجه سانتیگراد) و در شرایط روشن بودن کار میکند. تخریب عملکرد ناشی از LeTID جدیتر از LID است و سرعت بازیابی آن کندتر است.
