| Marca | Wone |
| Número de modelo | Módulo mono-facial de 610-635 vatios con menor LID/LeTID |
| Potencia máxima | 625Wp |
| Serie | 66HL4M-(V) |
Certificación
IEC61215:2021 / IEC61730:2023 ·
IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·
ISO9001:2015: Sistema de xestión da calidade ·
ISO14001:2015: Sistema de xestión medioambiental ·
ISO45001:2018: Sistemas de xestión da seguridade e saúde no traballo.
Características
Os módulos tipo N con tecnoloxía Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) ofrecen unha menor degradación LID/LeTID e un mellor rendemento en condicións de baixa luz.
Os módulos tipo N coa tecnoloxía HOT 3.0 de Solar ofrecen maior fiabilidade e eficiencia.
Alta resistencia ao salitre e ao amoníaco.
Certificados para soportar: 5400 Pa de carga estática máxima na parte frontal, 2400 Pa de carga estática máxima na parte traseira.
Melhor captura de luz e recolección de corrente para mellorar o rendemento do módulo e a súa fiabilidade.
Minimiza a posibilidade de degradación causada polo fenómeno PID mediante a optimización da tecnoloxía de produción das células e o control dos materiais.
Características mecánicas
Configuración de embalaxe
Especificacións (STC)
Condicións de aplicación
Dibuxos de enxeñaría
*Nota: Para dimensións específicas e raxes de tolerancia, por favor, consulte os debuxos detallados correspondentes do módulo.
Rendemento eléctrico e dependencia da temperatura
Que é o fenómeno LID/LeTID?
LID (Degradación Inducida pola Luz) e LeTID (Degradación Inducida pola Luz e Temperatura Elevada) son dous fenómenos que afectan o rendemento das células solares. Especialmente nos módulos de alta potencia, estes problemas son particularmente importantes. A continuación, explica-se o fenómeno LID e LeTID e o seu impacto nos módulos monofaciais de 610-635 vatios.
LID: O LID refírese ao fenómeno de degradación do rendemento que ocorre cando as células solares están expostas á luz solar por primeira vez. Este fenómeno debeuse principalmente á formación de complexos de boro-oxíxeno no material da célula (xeralmente silicio monocristalino tipo p) baixo iluminación, resultando nunha redución da eficiencia da célula.
LeTID: O LeTID é outro fenómeno de degradación do rendemento. Ocorre cando a célula opera a temperaturas elevadas (por exemplo, por riba dos 70 °C) e baixo iluminación. A degradación do rendemento causada polo LeTID é máis grave que a do LID, e a velocidade de recuperación é máis lenta.
