
এনএসআই, আইইই, এনএমএ বা আইইসি মানদণ্ড ব্যবহৃত হয় পাওয়ার ক্যাপাসিটর ব্যাংক পরীক্ষার জন্য।
এখানে ক্যাপাসিটর ব্যাংক পরীক্ষার তিন ধরন রয়েছে। তারা হল:
ডিজাইন পরীক্ষা বা টাইপ পরীক্ষা।
প্রোডাকশন পরীক্ষা বা রুটিন পরীক্ষা।
ফিল্ড পরীক্ষা বা প্রিকমিশনিং পরীক্ষা।
যখন কোনও উৎপাদক একটি নতুন ডিজাইনের পাওয়ার ক্যাপাসিটর চালু করে, তখন নতুন ব্যাচের ক্যাপাসিটর মানদণ্ড অনুসরণ করছে কিনা তা পরীক্ষা করা হয়। ডিজাইন পরীক্ষা বা টাইপ পরীক্ষা একক ক্যাপাসিটরের উপর না করে কিছু যাদৃচ্ছিকভাবে নির্বাচিত ক্যাপাসিটরের উপর করা হয় মানদণ্ড অনুসরণের নিশ্চয়তা দেওয়ার জন্য।
নতুন ডিজাইন চালু হওয়ার সময়, এই ডিজাইন পরীক্ষাগুলি একবার সম্পন্ন হলে, ডিজাইন পরিবর্তন না হওয়া পর্যন্ত আর কোনও ব্যাচের জন্য এই পরীক্ষাগুলি পুনরাবৃত্তি করার প্রয়োজন হয় না। টাইপ পরীক্ষা বা ডিজাইন পরীক্ষা সাধারণত ধ্বংসাত্মক এবং ব্যয়বহুল।
ক্যাপাসিটর ব্যাংক উপর সম্পন্ন টাইপ পরীক্ষাগুলি হল –
উচ্চ ভোল্টেজ ইমপাল্স সহ্যশীলতা পরীক্ষা।
বুশিং পরীক্ষা।
তাপীয় স্থিতিশীলতা পরীক্ষা।
রেডিও ইনফ্লুয়েন্স ভোল্টেজ (RIV) পরীক্ষা।
ভোল্টেজ ডিক্রিমেন্ট পরীক্ষা।
শর্ট সার্কিট ডিচার্জ পরীক্ষা।
এই পরীক্ষা ক্যাপাসিটর ইউনিটে ব্যবহৃত প্রতিরোধকের সহ্যশীলতা নিশ্চিত করে। ক্যাপাসিটর ইউনিটে প্রদত্ত প্রতিরোধক ট্রান্সিয়েন্ট ওভারভোল্টেজ শর্তে উচ্চ ভোল্টেজ সহ্য করতে সক্ষম হওয়া উচিত।
ক্যাপাসিটর ইউনিটের তিন ধরন রয়েছে।
এখানে, ক্যাপাসিটর এলিমেন্টের একটি টার্মিনাল ক্যাস্টিং থেকে একটি বুশিং দিয়ে বেরিয়ে আসে এবং অন্য টার্মিনাল ক্যাপাসিটর এলিমেন্ট সরাসরি ক্যাস্টিং সঙ্গে সংযুক্ত হয়। এখানে ক্যাপাসিটর ইউনিটের ক্যাস্টিং ক্যাপাসিটর ইউনিটের একটি টার্মিনাল হিসাবে কাজ করে এবং ক্যাপাসিটর এলিমেন্টের উচ্চ ভোল্টেজ ইমপাল্স সহ্যশীলতা পরীক্ষা এই ইউনিটে সম্পন্ন করা যায় না।
এখানে ক্যাপাসিটর এলিমেন্টের দুই প্রান্ত দুইটি পৃথক বুশিং দিয়ে ক্যাস্টিংয়ে সমাপ্ত হয়। এখানে ক্যাস্টিং সম্পূর্ণরূপে ক্যাসিং বডি থেকে বিচ্ছিন্ন থাকে।
তিন ফেজ ক্যাপাসিটর ইউনিটে, তিন ফেজ ক্যাপাসিটর এলিমেন্টের প্রতিটি ফেজের লাইন টার্মিনাল তিনটি পৃথক বুশিং দিয়ে ক্যাস্টিং থেকে বেরিয়ে আসে।
এই পরীক্ষা শুধুমাত্র বহু বুশিং ক্যাপাসিটর ইউনিটে সম্পন্ন করা হয়। উচ্চ ভোল্টেজ ইমপাল্স প্রয়োগ করার আগে সব বুশিং স্ট্যান্ড একটি উচ্চ পরিবাহী তার দিয়ে শর্ট সার্কিট করা হয়। ক্যাস্টিং বডি সঠিকভাবে মাটি করা হয়।
একাধিক একক কিছু BIL বা বেসিক ইনসুলেশন লেভেল রেটিং পরীক্ষা করতে হলে, তখন সব ব্যাচের বুশিং একসাথে শর্ট করা হয়।
এই পরীক্ষায় মানক ইমপাল্স কভার ভোল্টেজ প্রতিটি বুশিং স্ট্যান্ডে প্রয়োগ করা হয়। প্রস্তাবিত ইমপাল্স ওভারভোল্টেজ 1.2/50 µsec। যদি ক্যাপাসিটর ইউনিটে দুইটি ভিন্ন BIL বুশিং থাকে তাহলে ইমপাল্স ভোল্টেজ প্রয়োগ করা হয় কম BIL বুশিং ভিত্তিক। যদি তিনবার পরপর রেটড ইমপাল্স ভোল্টেজ প্রয়োগের পর বুশিংয়ে ফ্ল্যাশ ওভার না হয়, তাহলে ইউনিটটি পরীক্ষায় পাস হয়।
যদি পূর্ববর্তী ইমপাল্স পরীক্ষায় ফ্ল্যাশ ওভার না হয়, তাহলে পৃথক বুশিং পরীক্ষার প্রয়োজন হয় না। কিন্তু যদি প্রথম তিনবার পরপর ইমপাল্স ওভারভোল্টেজ প্রয়োগের পর ফ্ল্যাশ ওভার হয়, তাহলে আরও তিনবার পরপর ওভারভোল্টেজ প্রয়োগ করা হয়। যদি বুশিংয়ে অতিরিক্ত ফ্ল্যাশ ওভার না হয়, তাহলে বুশিংটি পরীক্ষায় পাস হয়।
এই পরীক্ষা করা হয় যাতে ক্যাপাসিটর ইউনিটটি কতটা তাপীয়ভাবে স্থিতিশীল তা দেখা যায়। এই পরীক্ষার জন্য পরীক্ষার ইউনিটটি দুইটি ডামি ক্যাপাসিটর ইউনিটের মধ্যে স্থাপন করা হয়। ডামি ক্যাপাসিটর ইউনিটগুলি পরীক্ষার ইউনিটের মতো একই আকার হতে হবে।
ডামি ইউনিটগুলি এবং পরীক্ষার ইউনিট এমনভাবে স্থাপন করা হয় যেভাবে এগুলি বাস্তবে ক্যাপাসিটর ব্যাংক স্ট্রাকচারে স্থাপন করা হয়।
হাওয়ার পরিচালনা কমানোর জন্য সব তিনটি ক্যাপাসিটরকে একটি বন্ধ আবরণের মধ্যে রাখা হয়। ডামি ইউনিটগুলি পরীক্ষার ইউনিটের মতো একই রেটেড ক্যাপাসিটর ইউনিট হতে পারে বা এগুলি পরীক্ষার ইউনিটের রেসিস্টর মডেল হতে পারে। রেসিস্টর মডেল মানে হল, ক্যাপাসিটর এলিমেন্টের পরিবর্তে ক্যাপাসিটর কেসিং এর মধ্যে রেসিস্টর স্থাপন করা হয় যাতে একই ইউনিট পাওয়ারের জন্য মূল ক্যাপাসিটর ইউনিটের মতো একই তাপীয় প্রভাব তৈরি হয়। আবরণের মধ্যে হাওয়া বাধ্য পরিচালিত হওয়া উচিত নয়। সব তিনটি নমুনা, অর্থাৎ পরীক্ষার ক্যাপাসিটর এবং দুইটি ডামি ক্যাপাসিটরকে নিম্নোক্ত সূত্র দ্বারা গণনা করা একটি পরীক্ষামূলক ভোল্টেজ দ্বারা শক্তিশালী করা হয়,
যেখানে,
V