modulo mono-facciale da 610-635 Watt con LID/LeTID ridotto

Certificazione

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: Sistema di gestione della qualità ·

•  ISO14001:2015: Sistema di gestione ambientale ·

•  ISO45001:2018: Sistemi di gestione per la salute e la sicurezza sul lavoro.

Caratteristiche

• I moduli N con tecnologia Tunnel Oxide Passivating Contacts (TOPcon) offrono una minore degradazione LID/LeTID e migliori prestazioni in bassa luce.

• I moduli N con la tecnologia HOT 3.0 di Solar offrono maggiore affidabilità ed efficienza.

• Elevata resistenza al nebbiolio salino e all'ammoniaca.

• Certificati per resistere a: 5400 Pa di carico statico massimo sul lato frontale, 2400 Pa di carico statico massimo sul lato posteriore.

• Migliore trappolaggio della luce e raccolta di corrente per migliorare il rendimento del modulo e l'affidabilità.

• Minimizza la possibilità di degradazione causata dai fenomeni PID attraverso l'ottimizzazione della tecnologia di produzione delle celle e il controllo dei materiali.

Caratteristiche meccaniche

Configurazione di imballaggio

Specifiche (STC)

Condizioni di applicazione

Disegni ingegneristici

*Nota: Per le dimensioni specifiche e i range di tolleranza, si prega di fare riferimento ai disegni dettagliati del modulo corrispondente.

Prestazioni elettriche e dipendenza dalla temperatura

Cos'è il fenomeno LID/LeTID?

LID (Degradazione Indotta dalla Luce) e LeTID (Degradazione Indotta dalla Luce e da Temperature Elevate) sono due fenomeni che influiscono sulle prestazioni delle celle fotovoltaiche. In particolare, nei moduli ad alta potenza, questi problemi sono particolarmente importanti. Di seguito è fornita una spiegazione dei fenomeni LID e LeTID e del loro impatto sui moduli monofacciali da 610-635 watt.

• LID: Il LID si riferisce al fenomeno di degradazione delle prestazioni che si verifica quando le celle fotovoltaiche vengono esposte per la prima volta alla luce solare. Questo fenomeno è principalmente dovuto alla formazione di complessi boro-ossigeno nel materiale della cella (solitamente silicio monocristallino p-tipo), che porta a una riduzione dell'efficienza della cella.

• LeTID: Il LeTID è un altro fenomeno di degradazione delle prestazioni. Si verifica quando la cella opera a temperature elevate (ad esempio, superiori a 70 °C) e condizioni di illuminazione. La degradazione delle prestazioni causata dal LeTID è più grave rispetto al LID e la velocità di recupero è più lenta.