Módulo mono-facial de 610-635 vatios con menor LID/LeTID

Certificación

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: Sistema de Gestión de Calidad ·

•  ISO14001:2015: Sistema de Gestión Ambiental ·

•  ISO45001:2018: Sistemas de gestión de la salud y seguridad en el trabajo.

Características

• Los módulos tipo N con tecnología de contactos pasivantes de óxido de túnel (TOPcon) ofrecen una menor degradación LID/LeTID y un mejor rendimiento en condiciones de poca luz.

• Los módulos tipo N con la tecnología HOT 3.0 de Solar ofrecen mayor fiabilidad y eficiencia.

• Alta resistencia a la sal y al amoníaco.

• Certificados para soportar: 5400 Pa de carga estática máxima en la parte frontal, 2400 Pa de carga estática máxima en la parte trasera.

• Mejor atrapamiento de luz y recolección de corriente para mejorar la potencia y la fiabilidad del módulo.

• Minimiza la posibilidad de degradación causada por fenómenos PID mediante la optimización de la tecnología de producción de células y el control de materiales.

Características Mecánicas

Configuración de Embalaje

Especificaciones (STC)

Condiciones de Aplicación

Dibujos de Ingeniería

*Nota: Para dimensiones específicas y rangos de tolerancia, consulte los dibujos detallados del módulo correspondiente.

Rendimiento Eléctrico y Dependencia de la Temperatura

¿Qué es el fenómeno LID/LeTID?

LID (Degradación Inducida por Luz) y LeTID (Degradación Inducida por Luz y Temperatura Elevada) son dos fenómenos que afectan el rendimiento de las células solares. Especialmente en módulos de alta potencia, estos problemas son particularmente importantes. A continuación, se explica el fenómeno LID y LeTID y su impacto en módulos monofaciales de 610-635 vatios.

• LID: LID se refiere al fenómeno de degradación del rendimiento que ocurre cuando las células solares se exponen a la luz solar por primera vez. Este fenómeno se debe principalmente a la formación de complejos de boro-oxígeno en el material de la célula (generalmente silicio monocristalino tipo p) bajo iluminación, lo que resulta en una reducción de la eficiencia de la célula.

• LeTID: LeTID es otro fenómeno de degradación del rendimiento. Ocurre cuando la célula opera a temperaturas elevadas (por ejemplo, superiores a 70 °C) y bajo condiciones de iluminación. La degradación del rendimiento causada por LeTID es más grave que la de LID y la velocidad de recuperación es más lenta.