
مشکل اصلی که برطرف میشود
سیستمهای IT سنتی نقاط شکننده منحصر به فرد هستند. خرابیهای اساسی ناشی از بارگذاری زیاد، تنش حرارتی یا خطاهای داخلی منجر به اندازهگیریهای نادرست/سیگنالهای حفاظتی یا از دست دادن کامل دادهها میشوند. افزایش موقت به ویژه برای CITs به دلیل نزدیکی ولتاژ/جریان چالشبرانگیز است. این آسیبپذیریها ثبات شبکه و ایمنی پرسنل را تهدید میکنند.
راهحل CIT محکم
این راهحل با تعبیه لایههایی از مهندسی قابلیت اطمینان و ایمنی فراتر از ترکیب اساسی میرود:
- 冗余性:
- 多个独立核心: 在单个单元外壳内集成 **≥2 个功能隔离的电流测量核心** 和 **≥2 个独立的电压测量核心**。
- 故障运行原则: 次级信号处理持续监控所有核心,使用交叉比较和预定义阈值。一旦检测到任何单个核心(电流或电压)出现异常,系统会立即无缝切换到健康冗余核心,**而不中断输出信号或触发断路器跳闸**。主要功能保持完全运行。
- 主动条件监测:
- 每个核心自诊断: 每个测量核心(电流和电压)都嵌入了传感器和算法,持续监测其自身的健康参数:
- 温度(内部/环境): 通过嵌入式探头连续监测。
- 信号特性: 核心饱和指示器、谐波失真检查、相位偏移。
- 绝缘电阻: 定期检查退化趋势。
- 高级算法: 使用AI/ML算法处理诊断数据,以预测核心退化并区分瞬态干扰和永久故障。
- 主动温度补偿 (ATC):
- 实时精度保持: 集成高精度温度传感器将数据输入次级电子设备中嵌入的补偿算法。
- 连续校准: ATC 动态调整所有核心(主核心和冗余核心)的增益和相位角,消除操作温度范围(-40°C 至 +70°C)内的热漂移误差。无论环境或负载条件如何,都能确保一致的精度。
- 增强的机械和电气韧性:
- 故障安全物理设计: 使用坚固的材料和机械布局,即使在显著应力或局部内部组件故障下(例如,一个失败的核心模块不会损害整体机械稳定性),关键路径完整性(例如,支撑结构、初级导体连接)也能保持。
- 集成浪涌保护: 基于 **金属氧化物压敏电阻 (MOV) 的浪涌抑制器** 被集成在 CIT 外壳内,战略性地放置在电压端子和控制电缆入口点。在内部核心或电子设备受到损坏之前,抑制灾难性的电压尖峰(例如,雷电、开关浪涌)。
- 优化爬电距离和间隙: 内部设计和外部绝缘轮廓采用了 **特定延长的爬电距离** 和 **增加的相间/相地间隙**。这考虑了 CIT 独特的复合电磁应力,防止表面跟踪闪络,特别是在污染(灰尘、湿气、盐分)或高湿度条件下。
具体可靠性与安全优势
- 大幅减少强制停机时间: 冗余核心确保信号连续可用。核心故障从一个关键事件转变为受监控的维护触发器。
- 预测性维护能力: 自诊断提供可操作的健康数据,使计划维护能够在故障发生前进行,改善资源分配和资产寿命。
- 热应力下的绝对信号完整性: ATC 消除了热引起的测量误差,保证在波动环境中保护准确性和计量有效性。
- 对瞬态的鲁棒性: 集成 MOV 显著降低了 CIT 本身及其下游继电器/保护设备因浪涌引起的损坏风险。
- 增强人员安全: 消除开路 CT 或单元内未包含的核心故障带来的危险。冗余性最大限度地减少了紧急干预的需要。延长爬电距离防止表面闪络。
- 无与伦比的韧性: 故障安全机制结合功能冗余和浪涌保护,创造了一个比任何标准 IT 解决方案更能抵抗内部故障、外部电气应力和极端环境的传感单元。
增强的优势概述
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功能
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可靠性影响
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安全性影响
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电网稳定性效益
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冗余核心
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✓ 核心故障期间不间断运行 ✓ 消除单点故障
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✓ 防止危险的开路条件 ✓ 维护保护功能
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✓ 数据流连续 ✓ 防止误跳闸或未能跳闸
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自诊断
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✓ 早期故障检测 ✓ 实现预测性维护
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✓ 在关键故障前发出警报 ✓ 减少暴露于危险中的机会
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✓ 优化维护计划 ✓ 防止意外停机
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主动温度补偿
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✓ 消除热漂移误差 ✓ 在所有条件下保持一致的精度
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✓ 确保正确的保护信号 ✓ 防止误操作
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✓ 准确的负荷流动数据 ✓ 电压调节稳定
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集成浪涌抑制器
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✓ 保护内部组件 ✓ 防止灾难性故障
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✓ 内部容纳浪涌能量 ✓ 防止连锁损坏
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✓ 保护下游设备 ✓ 最小化瞬态干扰
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优化爬电/绝缘
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✓ 防止表面闪络 ✓ 处理污染条件
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✓ 消除外弧 ✓ 降低火灾风险
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✓ 在恶劣环境中稳定运行 ✓ 在不利天气条件下更高的正常运行时间
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典型故障概率比较:
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配置
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完全测量故障的概率
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标准CT或VT
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20年一次
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标准CIT
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15年一次(组合故障点)
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此加固CIT解决方案
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150年以上一次(冗余核心+保护)
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