610-635ワット単面モジュール低LID/LeTID

認証

• IEC61215:2021 / IEC61730:2023 · 

• IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·

•  ISO9001:2015: 品質マネジメントシステム ·

•  ISO14001:2015: 環境マネジメントシステム ·

•  ISO45001:2018: 職業健康安全マネジメントシステム。

特徴

• トンネル酸化物パスベーシングコンタクト（TOPcon）技術を使用したN型モジュールは、LID/LeTID劣化が少なく、低光条件下での性能が優れています。

• ソーラーのHOT 3.0技術を使用したN型モジュールは、信頼性と効率が優れています。

• 高い塩霧とアンモニア耐性。

• 静的試験負荷：前面最大5400 Pa、背面最大2400 Paに耐える認証済み。

• より良い光捕集と電流収集により、モジュールの出力と信頼性が向上します。

• セル生産技術と材料制御の最適化により、PID現象による劣化の可能性を最小限に抑えます。

機械的特性

パッケージ構成

仕様 (STC)

使用条件

エンジニアリング図面

*注：具体的な寸法と許容範囲については、対応する詳細なモジュール図面を参照してください。

電気的性能および温度依存性

LID/LeTID現象とは何ですか？

LID（光誘起劣化）とLeTID（光と高温誘起劣化）は、太陽電池の性能に影響を与える2つの現象です。特に高出力モジュールでは、これらの問題は特に重要です。以下に、LIDとLeTID現象およびそれらが610-635ワット単面モジュールに与える影響について説明します。

• LID：LIDは、太陽電池が初めて太陽光に曝露されたときに発生する性能劣化現象を指します。この現象は主に、照明下でバッテリー材料（通常はp型単結晶シリコン）中にボロン-酸素複合体が形成されることにより、バッテリーの効率が低下することによるものです。

• LeTID：LeTIDは別の性能劣化現象です。これは、バッテリーが高温（例えば70°C以上）かつ照明条件下で動作するときに発生します。LeTIDによって引き起こされる性能劣化はLIDよりも深刻で、回復速度も遅いです。