| Marka | Wone |
| Model nömrəsi | 610-635 Vatt monofasal modul aşağı LID/LeTID |
| Ən böyük gücü | 625Wp |
| Seriya | 66HL4M-(V) |
Sertifikasi
IEC61215:2021 / IEC61730:2023 ·
IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·
ISO9001:2015: Sistem İdarəetməsi Keyfiyyət ·
ISO14001:2015: Mühit İdarəetmə Sistemi ·
ISO45001:2018: İş yeri sağlamlığı və tibbi idarəetmə sistemi.
Xüsusiyyətlər
Tunnel Oksid Passivasiya kontaktları (TOPcon) texnologiyası ilə N-növ modullar daha az LID/LeTID degradasiyası və daha yaxşı zəif işıq performansı təmin edir.
Soların HOT 3.0 texnologiyası ilə N-növ modullar daha yaxşı nəzəkdənlik və effektivlik təmin edir.
Yüksək dəriyə və ammiak dayanıqlılığı.
Sertifikatlaşdırılmış: 5400 Pa ön tərəf maksimum statik test yükü, 2400 Pa arxa tərəf maksimum statik test yükü.
Modul gücünun və nəzəkdənliyinin artırılması üçün daha yaxşı işıq tapan və cürm toplama.
PID nəticəsində ortaya çıxan degradasiyanın minimuma endirməsi həcmlər üretilmə texnologiyasının və material idarəetməsinin optimallaşdırılması vasitəsilə təmin olunur.
Mekaniki Xüsusiyyətlər
Paketləmə Konfiqurasiyası
Spesifikasiyalari (STC)
Tətbiq Şərtləri
İnkişaf Çərtəsi
*Qeyd: Xüsusi ölçülər və toleransiya diapazonları üçün, xahiş edirik uyğun detallı modul çərtəsinə müraciət edin.
Elektrik Performansı və Temperatur Asılılığı
LID/LeTID nədir?
LID (Işığın Induced Degradation) və LeTID (Işığın və Yüksək Temperaturun Induced Degradation) iki növ fenomenlərdir ki, güneş pillərinin performansını etkiler. Xüsusilə yüksək gücü olan modullarda bu problemlər əhəmiyyətli olur. Aşağıda LID və LeTID fenomenləri və onların 610-635 vatlı tək tərəfli modullara təsiri təfsil olunmuşdur.
LID：LID, güneş pillələrinin ilk dəfə işığına maraq qazandığı zaman baş verən performans degradasiya fenomenidir. Bu fenomen, aydınlatma altında (adətən p-növ monokristal silikon) pillə materialında bor-oxygen komplekslərinin formalaşması nəticəsində pillənin effektivliyinin azalmasına səbəb olur.
LeTID：LeTID, pillənin yüksək temperatur (məsələn, 70 °C-dən yuxarı) və aydınlatma şəraitində fəaliyyət göstərdiyi zaman baş verən digər bir performans degradasiya fenomenidir. LeTID tərəfindən səbəb olunan performans degradasiya LID-dən daha ciddi olur və bərpa sürəti yavaşdır.
