| Jenama | Wone |
| Nombor Model | Modul mono-facial 610-635 Watt dengan LID/LeTID yang lebih rendah |
| Kuasa maksimum | 615Wp |
| Siri | 66HL4M-(V) |
Pengesahan
IEC61215:2021 / IEC61730:2023 ·
IEC61701 / IEC62716 / IEC60068 / IEC62804 ·
ISO9001:2015: Sistem Pengurusan Kualiti ·
ISO14001:2015: Sistem Pengurusan Alam Sekitar ·
ISO45001:2018: Sistem pengurusan keselamatan dan kesihatan pekerjaan.
Ciri-ciri
Modul jenis N dengan teknologi Hubungan Penapisan Terowong Oksida (TOPcon) menawarkan penurunan degradasi LID/LeTID yang lebih rendah dan prestasi cahaya lemah yang lebih baik.
Modul jenis N dengan teknologi HOT 3.0 Solar menawarkan kebolehpercayaan dan kecekapan yang lebih baik.
Ketahanan terhadap kabus garam dan amonia yang tinggi.
Disahkan untuk menanggung: beban ujian statik maksimum sisi hadapan 5400 Pa, beban ujian statik maksimum sisi belakang 2400 Pa.
Perangkap cahaya dan pengumpulan arus yang lebih baik untuk meningkatkan output kuasa modul dan kebolehpercayaan.
Mengurangkan peluang degradasi yang disebabkan oleh fenomena PID melalui pengoptimuman teknologi produksi sel dan kawalan bahan.
Ciri-ciri Mekanikal
Konfigurasi Pakej
Spesifikasi (STC)
Syarat-syarat Aplikasi
Gambaran Kejuruteraan
*Nota: Untuk dimensi spesifik dan julat toleransi, sila merujuk kepada gambaran modul terperinci yang berkaitan.
Prestasi Elektrik & Ketergantungan Suhu
Apakah fenomena LID/LeTID?
LID (Degradasi Induced Cahaya) dan LeTID (Degradasi Induced Cahaya dan Suhu Tinggi) adalah dua fenomena yang mempengaruhi prestasi sel suria. Terutamanya dalam modul keluaran kuasa tinggi, isu-isu ini sangat penting. Berikut adalah penjelasan tentang fenomena LID dan LeTID serta kesannya terhadap modul satu sisi 610-635 watt.
LID：LID merujuk kepada fenomena penurunan prestasi yang berlaku apabila sel suria terdedah kepada cahaya matahari untuk pertama kali. Fenomena ini terutamanya disebabkan oleh pembentukan kompleks boron-oxygen dalam bahan sel (biasanya silikon monokristal p-type), yang mengakibatkan penurunan kecekapan sel.
LeTID：LeTID adalah fenomena penurunan prestasi lain. Ia berlaku apabila sel beroperasi di bawah suhu tinggi (contohnya, di atas 70 °C) dan keadaan pencahayaan. Penurunan prestasi yang disebabkan oleh LeTID lebih serius daripada LID, dan laju pemulihan lebih perlahan.
