چه هست آزمون ضربه ای ترانسفورماتور؟

پالس آزمون کا مقصد

جزوی تخلیہ کا پتہ لگانا

جزوی تخلیہ اس بات کا حوالہ دیتا ہے کہ عایق مادے کے اندر موجود ہوا کا فاصلہ یا ناپاکیت کے تحت زیادہ ولٹیج کے میدان کے اثر میں جزوی طور پر تخلیہ کا ظہور ہوتا ہے، جس سے عایق نظام کو کھٹکھٹا ہونا شروع ہوسکتا ہے۔

عایق کے زوال کی درجہ کا تعین کرنا

جزوی تخلیہ کے خصوصیات کو تجزیہ کرتے ہوئے، عایق مادے کے زوال کی درجہ کا تعین کیا جاسکتا ہے۔

مفتاحی عایق کی خرابیوں کا شناخت کرنا

نملی، غیر صافیت، ببل، یا مکانیکی نقصان جیسے مسائل۔

پالس آزمون کا طریقہ

پالس کرنٹ طریقہ (PCM) 

اصول: چھوٹے عرصے کے لیے زیادہ ولٹیج والے پالس کو لاگو کرتے ہوئے، ٹرانسفر کے اندر جزوی تخلیہ کو برانگیز کیا جاتا ہے، اور جزوی تخلیہ کے ذریعہ پیدا ہونے والے کرنٹ پالس کو ضبط کیا جاتا ہے۔

آلات: پالس کرنٹ ٹیسٹر کا استعمال کرتے ہوئے، یہ آلہ زیادہ ولٹیج والے پالس کو پیدا کرنے اور جزوی تخلیہ کے ذریعہ پیدا ہونے والے کرنٹ پالس کو ضبط کرنے کے قابل ہے۔

طریقہ عمل

• ٹرانسفر کو بجلی کی فراہمی سے منقطع کریں۔

• پالس کرنٹ ٹیسٹر کو ٹرانسفر کے وائنڈنگ سے جوڑیں۔

• زیادہ ولٹیج والے پالس کو لاگو کیا جاتا ہے اور جزوی تخلیہ کے ذریعہ پیدا ہونے والے کرنٹ پالس کو ضبط کیا جاتا ہے۔

• کرنٹ پالس کی ویو فارم کو تجزیہ کیا جاتا ہے تاکہ جزوی تخلیہ کی خصوصیات کا تعین کیا جا سکے۔

پالس ولٹیج طریقہ (PVM) 

اصول: زیادہ ولٹیج والے پالس کو لاگو کرتے ہوئے، جزوی تخلیہ کو برانگیز کیا جاتا ہے اور جزوی تخلیہ کے ذریعہ پیدا ہونے والے ولٹیج کے تبدیلی کو ضبط کیا جاتا ہے۔

آلات: پالس ولٹیج ٹیسٹر کا استعمال کرتے ہوئے، یہ آلہ زیادہ ولٹیج والے پالس کو پیدا کرنے اور جزوی تخلیہ کے ذریعہ پیدا ہونے والے ولٹیج کے تبدیلی کو ضبط کرنے کے قابل ہے۔

طریقہ عمل

• ٹرانسفر کو بجلی کی فراہمی سے منقطع کریں۔

• پالس ولٹیج ٹیسٹر کو ٹرانسفر کے وائنڈنگ سے جوڑیں۔

• زیادہ ولٹیج والے پالس کو لاگو کیا جاتا ہے اور جزوی تخلیہ کے ذریعہ پیدا ہونے والے ولٹیج کے تبدیلی کو ضبط کیا جاتا ہے۔

• ولٹیج کی ویو فارم کو تجزیہ کیا جاتا ہے تاکہ جزوی تخلیہ کی خصوصیات کا تعین کیا جا سکے۔

آزمون کے اعتبارات

سلامتی پہلی: چونکہ زیادہ دباؤ شامل ہے، آزمون کے دوران سلامتی کے اصول کی строга спроведливост трябва да се следват стриктно.

محیطی شرائط: آزمون کو خشک اور ڈسٹ فری ماحول میں کرنا چاہیے تاکہ بیرونی رعایت کو کم کیا جا سکے۔

آلات کی کیلیبریشن: آزمون آلات کو نظامی طور پر کیلیبریٹ کیا جانا چاہیے تاکہ آزمون کے نتائج کی صحت کو یقینی بنایا جا سکے۔

ڈیٹا تجزیہ

جزوی تخلیہ کا سطح: پالس کرنٹ یا ولٹیج کی امپلیٹیوڈ اور فریکوئنسی تقسیم کو تجزیہ کرتے ہوئے جزوی تخلیہ کی شدت کا تعین کیا جا سکتا ہے۔

پیٹرن شناخت: پیٹرن شناخت ٹیکنالوجی کے ذریعے مختلف قسم کے جزوی تخلیہ کو تمیز کیا جا سکتا ہے، تاکہ فلٹ کی وجہ کو لوکیشن کیا جا سکے۔

روند تجزیہ: متعدد آزمونوں کے ڈیٹا کے روند تجزیہ کے ذریعے ٹرانسفر کے عایق نظام کی صحت کے تبدیلیوں کو وقت کے ساتھ مانیٹر کیا جا سکتا ہے۔